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光伏電池膜厚測量儀

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產(chǎn)品型號(hào)SMX-BEN

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更新時(shí)間：2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù)：619次

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上海益朗儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

美國Solar Metrology 太陽能發(fā)電和太陽能再生能源產(chǎn)業(yè)用的X-熒光分析儀
可鍍層測厚儀和元素分析

：丁成峰

詳細(xì)介紹

SMX-BEN Benchtop XRF Metrology Tool（：丁成峰）

Solar Metrology System SMX tools excel at process development and failure analysis, as well as intricate analysis of full-panel deposition gradients.
The SMX-BEN benchtop platform is an excellent choice for R&D, process development and failure analysis. SMX-BEN delivers applications versatility and unsurpassed measurement performance in a compact form factor.
SMX-BEN facilitates material selection and recipe formulation in a pre- or early production ramp phase, and will continue to support your SMX production tool platforms well into capacity production.

MIRA AnalysisTM is an integrated XRF analysis and process control suite. MIRA combines powerful analysis tools with an intuitive, easy to use operator interface that is consistent across all SMX tool platforms.