XRF-2000 X射線測厚儀 鍍層測厚儀 測金機 膜厚儀
X-射線鍍層測厚儀的特征:
1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
一．韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀（全新*）
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價錢*，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92 。
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計功能
二．美國Thermo 第二代X射線熒光測量儀器（型測厚儀）
實現(xiàn)了快速、精密、準(zhǔn)確的X-射線測量儀器。
MicronX可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從埃（Å）至微米（μm）,它也能測量多至20個元素的塊狀合金成分。其準(zhǔn)確度、精密度和穩(wěn)定性是*的。
世界*光學(xué)準(zhǔn)直器0.025mm；集中X-射線光束，強度加強5-8倍；適合較薄鍍層測量，測量時間為正常的1/5；配有ZOOM功能，圖象可放大至zui高200倍；更新FP方法，適合多層厚度測量。，光束zui少可達(dá)
ZXR/LXR系統(tǒng)：用于小樣品的經(jīng)濟(jì)型。機械準(zhǔn)直器，氣體正比探測器。
GXR系統(tǒng)：斑點小，樣品量大。GXR能精確測量小至25μm的Sn、Pd和Ag層及小至35μm的Au和Ni層。應(yīng)用于微電子器件、數(shù)據(jù)偶合器、光通訊和數(shù)據(jù)貯存等。
VXR系統(tǒng)：真空測量環(huán)境（真空導(dǎo)管技術(shù)），增加靈敏度和測定范圍（Al-U）。VXR利用真空技術(shù)和*的焦耳—湯母遜制冷半導(dǎo)體探測器（140eV，F(xiàn)WHM）。
MXR系統(tǒng)：高性能、高精密、高分辨。利用光學(xué)準(zhǔn)直器透過元件發(fā)出*的40μm光束，將得到100—1000倍于相同大小光束的機械準(zhǔn)直器X-射線熒光的精度。電制冷半導(dǎo)體探測器提供增強的靈敏度和分辨率（220eV，F(xiàn)WHM）。用于半導(dǎo)體、光通訊、微電子、光子學(xué)、無源器件和薄層磁頭金屬化分析。
三．供應(yīng)二手金屬鍍層X射線測厚儀
適用于五金、電鍍、精品首飾、電子、手表、電路板等鍍層測量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測量。
二手測厚儀還可以低價出租，租費實惠，按年計算。可以提供美國VEECO、美國熱電、韓國XRF2000及日本精工X射線鍍層測厚儀的維修和保養(yǎng)服務(wù)。供應(yīng)以下二手設(shè)備：
1．美國VEECO X-射線鍍層厚度測量儀 型號XRF-4000 XRF-5000等
2．日本精工X-射線鍍層厚度測量儀 型號SFT-157 SFT-3000 SFT-7000 SFT-9000等
四．貴重金屬珠寶測量儀（X射線原理）
快速、非破壞性和高精度的貴金屬珠寶成品測量儀，可直接得出開金（Karat）值。短期內(nèi)便能賺回成本的聰明投資。無論你的業(yè)務(wù)是批發(fā)、零售、制造或是提煉回收，都能幫您省回時間和金錢。
十多年來，我們一直服務(wù)于PCB 廠商、電鍍行業(yè)、科研機構(gòu)、半導(dǎo)體生產(chǎn)、微電子、光電子、光通訊等電子行業(yè)。我們提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和的服務(wù)都得到顧客zui高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行顧客的期望、要求和需要，愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
