二手X射線熒光光譜儀ROHS
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儀器實(shí)拍：
二手X射線熒光光譜儀ROHS
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。
儀器類別
0303040903 /儀器儀表 /成分分析儀器 /熒光光度計(jì)
指標(biāo)信息
1.發(fā)射源是Rh靶X光管，zui大電流125mA，電壓60kV，zui大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～* 4.分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計(jì)算率N=1483870時(shí)，RSD=0.08% 穩(wěn)定性計(jì)算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%
附件信息
循環(huán)水致冷單元，計(jì)算機(jī) P10氣體瓶空氣壓縮機(jī)
分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。
X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進(jìn)行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個(gè)測量元素，因此測量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)。
熒光光譜
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測器，它們不需要液氮冷卻。采用電致冷的半導(dǎo)體探測器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
非色散譜儀
非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開來，而是通過選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測等方法使測量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般只適用于測量一些簡單和組成基本固定的樣品。
全反射熒光
如果n1>n2，則介質(zhì)1相對于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì)1是空氣，那么α1>α2（圖2.20右圖），即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí)，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中，這就是全反射現(xiàn)象。
X射線熒光光譜法有如下特點(diǎn)：
分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；
熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；
分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達(dá)ppm量級，輕元素稍差；
分析樣品不被破壞，分析快速，準(zhǔn)確，便于自動(dòng)化。
產(chǎn)品簡介
應(yīng)對歐盟RoHS、ELV和中國《電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法》。臺(tái)式小型主機(jī)，配備全自動(dòng)開關(guān)的大樣品室。適應(yīng)固體、液體、粉體、光盤、薄膜等各種類型的樣品。擴(kuò)展性*，16/8樣品交換、真空/He氣氛、4種準(zhǔn)直儀、使用CCD攝像頭觀察樣品等，900型的檢測器為電子制冷。
詳細(xì)介紹
固體•粉末•液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價(jià)RoHS、 ELV法規(guī)限制的有害元素的新裝置！靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！
1。配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。
2。配置高計(jì)數(shù)率電路，增加檢測器的計(jì)數(shù)量。
3。增加時(shí)間縮短功能，由熒光X射線強(qiáng)度算出測定精度，自動(dòng)判斷所需zui少測定時(shí)間。
4。增加自動(dòng)工作曲線選擇功能，依據(jù)識(shí)別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線。
技術(shù)參數(shù)
分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)6C~92U(EDX-800HS)
2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH
3.X射線濾鏡：5種自動(dòng)交換
4.軟件：
定性分析－測定/解析軟件。
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法
1.分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)，2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH
3.X射線濾鏡：5種自動(dòng)交換
4.軟件： 定性分析－測定/解析軟件
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法主要特點(diǎn)：
固體、粉末、液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價(jià)RoHS、 ELV法規(guī)限制以及電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法中有害元素的新裝置！靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！迅速測定ppm級的有害金屬！
應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。
Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是zui近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。
測定原理 X射線熒光分析法
測定方法 能量色散型
測定對象 固體、液體、粉狀
測定范圍 13Ai~92U
樣品室尺寸 zui大W370*D320*H155mm
迅速測定ppm級的有害金屬！
應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。
Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是zui近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。
產(chǎn)品名稱： | 熒光X射線元素分析儀 |
產(chǎn)品型號(hào)： | EDX-700HS |
廠商名稱： | SHIMADZU(島津) |
產(chǎn)品簡述： | X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER,rayny EDX-700HS型，AC100V,50Hz,15A,單相，分析元素范圍：11Na－92U |
SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray - Test Equipment Sales and Instrument Rental (Used,Refurbished,New)
SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray
Micro Precision Test Equipment Inc. provides sales, rental and calibration service for SHIMADZU instruments including, EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray. Select from options for the EDX-700HS test equipment (Used,Refurbished, New). We can deliver it at your location or you can order from one of our many regional offices. Call 530-268-1860 for current pricing and availability.
X射線熒光的產(chǎn)生原理
X射線管發(fā)出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長（能量）。因此，通過檢測X射線的波長就能夠進(jìn)行定性分析。另外，熒光X射線的強(qiáng)度與濃度具有函數(shù)關(guān)系，檢測每個(gè)元素X射線特征波長的X射線量就能進(jìn)行定量分析。
滿足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用
■ 電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
■ 汽車·機(jī)械
· 應(yīng)對ELV指令的篩選分析
· 各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測
■ 鋼鐵·非金屬
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析
■ 礦業(yè)
· 選礦工藝的成色鑒別分析
■ 窯業(yè)
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析
■ 石油·石油化學(xué)
· 油中硫元素的分析
· 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析
■ 化學(xué)工業(yè)
·無機(jī)·有機(jī)原料和產(chǎn)品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析
■ 環(huán)境
· 土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析
■ 醫(yī)藥
· 合成時(shí)的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析
■ 農(nóng)業(yè)·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析
■ 其它
· 考古學(xué)樣品及寶石成分分析
玩具·日用品中有害重金屬元素測定等
一、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀主機(jī)部分:
X射線發(fā)生器單元
X射線管
類型 Rh靶
冷卻方法 空冷（附風(fēng)扇）
2X射線電源單元
電壓 5-50kV，每步1Kv（測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時(shí)，可以用50ｋV。但測定輕元素時(shí)，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時(shí)可設(shè)定***佳電壓。） 電流 1-1000μA，每步1μA
穩(wěn)定度 ±0.01%（外電壓波動(dòng)±10%）
保護(hù)電路 過電壓, 過電流, 過功率,
X射線連鎖保護(hù)
（特點(diǎn)說明：電壓、電流可以由計(jì)算機(jī)控制自動(dòng)調(diào)節(jié)，滿足不同元素的高精度分析，同時(shí)滿足RoHS，ELV指令擴(kuò)展的要求）
3、一次X射線濾波片 5種自動(dòng)交換
（特點(diǎn)說明：不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進(jìn)行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準(zhǔn)確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進(jìn)行元素分析時(shí)可以自動(dòng)判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片，無須手動(dòng)更換）
二、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀檢測器:
1、檢測器
類型 Si（Li）檢測器
液氮 只有在分析時(shí)添加
液氮消耗 少于1升/天
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點(diǎn)說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實(shí)績、穩(wěn)定性上，Si(Li)半導(dǎo)體是性的實(shí)績（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對應(yīng)）。 掘場按振動(dòng)檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時(shí)，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時(shí)不能檢出，還有因?yàn)槭堑蛷?qiáng)度，在測試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計(jì)數(shù)單元
放大器
擬合時(shí)間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道
***大計(jì)數(shù)率 232-1/道
三、島津EDX-700 hs射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元
1、樣品室
蓋子 自動(dòng)開啟/關(guān)閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測定時(shí)蓋子自動(dòng)上升與下降。
***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
（特點(diǎn)說明：樣品室自動(dòng)開啟，樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標(biāo)準(zhǔn)。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）
2、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1、3、5、10mm可選
（特點(diǎn)說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。）
測定室開孔 13mm
3、測定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確定位分析區(qū)域。
會(huì)員1.png)
