ED400型渦流測厚儀
ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
技術參數(shù)：
測量范圍：0～500μm
測量精度：0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率：0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：5～45℃
外形尺寸：150mm×80mm×30mm
重 量：260g
儀器特點
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬：ED400型的量程達到0～500μm。
＊量程寬：ED400型的量程達到0～500μm。
＊精度高：ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高：ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便：只校正“0"和“50μm"兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設計精度。
＊基體導電率影響?。夯w材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高：采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結構優(yōu)化，儀器可靠性提高。
＊穩(wěn)定性提高：采用*的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
＊探頭線壽長：采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽可大大延長。
＊探頭芯壽長：采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽可大大延長。
＊探頭可互換：外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
標準配置
主機 1臺
探頭 1支
基體 1塊（6063合金）
校正箔片 1片（約50μm，附報告）
使用說明書 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱 1個
可選附件
備用探頭
基體
校正箔片（約50μm，附報告）
環(huán)保在線