平面平晶
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?????平面平晶主要和NG-C2高精度鈉光燈箱配套使用用于以干涉法檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測(cè)量?jī)x器以及測(cè)量工具量面的研合性和平面度，適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場(chǎng)使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等。?
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簡(jiǎn)介
????? 具有兩個(gè)（或個(gè)）光學(xué)測(cè)量平面的正圓柱形或長(zhǎng)方形的量規(guī)。光學(xué)測(cè)量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測(cè)量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測(cè)量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測(cè)量平面是相互平行的，用于測(cè)量?jī)筛吖鉂嵄砻娴钠叫卸日`差，例如千分尺兩測(cè)量面的平行度誤差。平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測(cè)量平面的平面度誤差為：1級(jí)精度的為0.03～0.05微米；2級(jí)精度的為0.1微米。常見的長(zhǎng)方形平面平晶的有效長(zhǎng)度般為200毫米。
? 平面平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度，
例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。 平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的技術(shù)參數(shù)?
產(chǎn)品名稱 | 平面直徑d（mm） | 工作面平面性（μm） |
平面平晶 | 30 | 0.03 |
平面平晶 | 45 | |
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