GB/T18852-2002
本標準*二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。本標準為接觸探傷中使用的探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場提供了測定方法。本標準適用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測定。本標準適用的探頭頻率范圍為1MHz-15 MHz。1MHz-15 MHzzui適宜于對鋼鐵產(chǎn)品的檢測，5MHz-15 MHzzui適宜于對像鋁合金之類的細晶粒結構產(chǎn)品的檢測。
HS半圓階梯試塊 相關資料：
HS半圓階梯試塊 相關資料：
1、 HS半圓階梯試塊（HS試塊），使用時應將試塊置于適當?shù)哪炯苌希鳛橹挝锏哪炯芗炔荒苡袚p于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
2、 SHD橫孔試塊，僅在用試塊調(diào)整縱波直探頭探傷靈敏度時候才使用?？v波直探頭探傷允許采用Φ3、Φ4、Φ6當量平底孔三種靈敏度。
相關產(chǎn)品：
SBS-3滲透探傷標準試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標準試塊 鋁合金滲透對比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 E型 交流標準試塊（3孔試塊）
B型 直流標準試塊（12孔試塊） C型 磁粉探傷標準靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
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