FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀詳情介紹
FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument
適用范圍Widely used：
1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，
功能描述Description：
1. 四探針單電測量方法
2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.
3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.
4. 選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇
參照標準：
1.硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
型號及參數(shù)Models and technical parameters
| 規(guī)格型model | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
| 1.方塊電阻范圍Sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×105Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×104Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×104Ω/□ |
| 2.電阻率范圍Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×106Ω-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×105Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×105Ω-cm |
| 測試電流范圍 Test current | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA | 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
| 4.電流精度 Current accura | ±0.1% | ±0.2% | ±0.2% | ±0.3% | ±0.3% | ±0.3% |
| 5.電阻精度Resistance | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
| 6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
| 7.測試方式test mode | 普通單電測量general single electrical measurement |
| 8.工作電源power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
| 9.誤差errors | ≤4%（標準樣片結(jié)果 Standard Sample results） |
| 10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform. |
| 11.測試探頭Test probe | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
工作原理和計算公式
1.四探針法測試薄層樣品方阻計算和測試原理如下：
直線四探針測試布局如圖8，相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理：
當(dāng)電流通過1、4探針，2、3探針測試電壓時計算如下：
儀器工作原理圖
四探針探頭
測試報表樣本
1. 開啟電源，預(yù)熱5分鐘.
2. 裝配好探頭和測試平臺.
3. 設(shè)定所需參數(shù).
4. 測量樣品
5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).
1. 自動量程
2. 雙電組合測試方法
3. 標準電阻校準儀器
4. PC軟件運行
5. 同時顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
6. 可顯示5位有效數(shù)字.
7. 中、英文界面
部分客戶案例
濟南展雄電子有限公司
青島啟東電子設(shè)備有限公司
福建萬龍金剛石工具有限公司
杭州晶鑫鍍膜包裝有限公司
丹東海浩電子科技有限公司
杭州晶鑫鍍膜包裝有限公司
華南理工大學(xué)
遠東福斯特新能源有限公司
南方科技大學(xué)
福建省泉州萬龍實業(yè)有限公司
蘇州環(huán)明電子科技有限公司
石家莊軍械學(xué)院
天津儀恒達科技有限公司
南昌公瑾科技有限公司
木森林股份有限公司
北京瑞億斯科技有限公司
浙江納沛新材料有限公司
深圳市中科測儀電子科技有限公司
寧波恩邁智能科技有限公司
北京慧遠偉業(yè)科技有限公司
中山市廣衛(wèi)消費設(shè)備有限公司
成都萬成科技有限公司
河北德凱鐵路信號器材有限公司
海南冷港科技有限公司
浙江世泰實業(yè)有限公司
南昌公瑾科技有限公司
上海蒙健實業(yè)有限公司
北京雪迪龍科技股份有限公司
藝奧品成像技術(shù)蘇州有限公司
安徽師范大學(xué)
廣西興宏源科技有限公司
浙江立德產(chǎn)品技術(shù)有限公司
株洲麥格米特電氣有限公責(zé)任公
江陰市中興光電實業(yè)有限公司
江蘇儀征電子管有限公司
北京思普特科技有限公司
出廠檢驗報告樣本
服務(wù)項目
1.質(zhì)保：12個月，長期維護.
2.培訓(xùn)：操作培訓(xùn)：
電話教學(xué)；U盤教學(xué)文件；遠程可視溝通；現(xiàn)場教學(xué)；說明書教學(xué)文件
3.保養(yǎng)和維護：
提供因知保養(yǎng)和維護文件、標識、表格 、保養(yǎng)提醒.
4.驗證文件：
3Q驗證文件、計量證書
5.擴展服務(wù)：
延保服務(wù)，樣品測試服務(wù)，后延服務(wù)，儀器租賃服務(wù).
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀視頻文件鏈接：
/v_show/id_XNDM1NDM2MTYyOA==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
