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SPECTROLAB M11 高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))

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SPECTROLABM11高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))-產(chǎn)品詳情SPECTROLABM11高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))一代直讀光譜儀，用于各種金屬材料中各種化學元素的精確成分分析

詳細介紹

SPECTROLAB M11 高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng)) - 產(chǎn)品詳情

SPECTROLABM11 高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))

一代直讀光譜儀，用于各種金屬材料中各種化學元素的精確成分分析。用于原材料檢驗，冶煉生產(chǎn)過程成分控制，成品元素成分定值及其它特殊應(yīng)用。最多可配置4個光學室，96個分析通道，可分析氮、氫、氧等氣體元素。

SPECTROLABM11 高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))特點

1. *的優(yōu)化光學系統(tǒng)由光電管PMT和CCD雙光學系統(tǒng)合二為一；

2. 多光學系統(tǒng)配置，最多可以設(shè)置3個光學系統(tǒng)。；

3. 實現(xiàn)120-780納米全譜記錄，為譜線優(yōu)選奠定基礎(chǔ)；

4. 所有元素采用一級譜線，靈敏度高，光譜干擾?。?/p>

5. 3000型數(shù)字化光源。精度和檢出限明顯改善。無須輔助電極，免維護；

6. 原廠校準工作曲線，用戶無須標樣制作曲線，隨機提供德國SUS校準標樣；

7. SAFT痕量元素分析技術(shù)，使分析靈敏度提高一個數(shù)量級，可以分析ppm級元素；

SPECTROLABM11 高精度火花直讀光譜儀(雙光學系統(tǒng))參數(shù)

主要特點	1. 多光學系統(tǒng)配置,最多可以設(shè)置3個光學系統(tǒng)。
	2. 所有元素采用一級譜線，靈敏度高，光譜干擾小。
	3. 3000型數(shù)字化光源。精度和檢出限明顯改善。無須輔助電極，免維護。
	4. 原廠校準工作曲線，用戶無須標樣制作曲線，隨機提供德國SUS校準標樣。
	5. SAFT痕量元素分析技術(shù)，使分析靈敏度提高一個數(shù)量級，可以分析ppm級元素。激發(fā)光源全數(shù)字化光源,CDD技術(shù),不需輔助間隙，能完成單基體和多基體分析任務(wù)。
技術(shù)參數(shù)	1. 光柵刻線3600條/mm光柵，色散率0.37 nm/mm (1級光譜)
	2. 波長范圍120-800nm
	3. 光柵焦距750mm
	4. 最多可設(shè)置96個分析通道
	5. 環(huán)境適應(yīng)性強：無需防震、恒溫；工作溫度范圍：10-40℃。
激發(fā)光源	全數(shù)字化光源,CDD技術(shù),不需輔助間隙，能完成單基體和多基體分析任務(wù)
波長范圍	120-800nm能完成氧氮氫等遠紫外元素分析
檢測器	通道型檢測器：光電倍增管+全譜型檢測器：CCD
分析時間	一個樣品標準分析時間在18秒以內(nèi)，最短可到9秒
設(shè)備耐用性及防護等級	設(shè)備耐用性很好，故障率低，防護等級符合歐洲一級標準
光柵個數(shù)及刻線數(shù)	二塊全息光柵，刻線數(shù)分別為3600，2924條/mm
光柵焦距	750mm
光譜室數(shù)量	2個標準配置+1個可選
儀器分辨率	一級光譜分辨率9pm
紫外元素分析條件實現(xiàn)方式及日常維護	密封充氬氣自循環(huán)紫外光學系統(tǒng)（技術(shù)），免日常維護，無污染，無噪音，無真空度波動，故儀器冷開機等待時間短<0.5小時，消耗成本低，故障率低，穩(wěn)定好。
入射光方式	直射式采光+1根光導(dǎo)纖維采光導(dǎo)光
光室恒溫控制方式及校正	光室恒溫在17℃+/-0.2℃，自動描跡校正狹縫飄移
火花臺板使用時限及冷卻方式	開放式火花臺，適合于各種形狀大小(最重可分析30Kg)的樣品分析，能配各種小樣品分析夾具（最細可分析0.8mm細絲,可分析0.1mm薄片），火花臺板能完成至少30萬次激發(fā)，空氣冷卻
氬氣消耗量	待機時0.1升/分鐘,分析樣品時4升/分鐘
工作溫度及環(huán)境要求	工作溫度為10-30℃，濕度小于等于80%
通道容量及分析基體	最多108個PMT+CCD全譜，能完成多基體分析
日常維護時限及頻率	火花臺5000次激發(fā)免清理
分析精度	很好（詳細見精度保證表）
開機等待時間	冷開機等待半個小時即可使用，熱開機隨開隨用