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長春海洋光電有限公司


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膜厚測量儀

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產(chǎn)品型號膜厚測量儀

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地長春市

聯(lián)系方式:歐海洋查看聯(lián)系方式

更新時間:2022-07-08 14:02:51瀏覽次數(shù):2467次

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經(jīng)營模式:經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品:78條

所在地區(qū):吉林長春市

聯(lián)系人:歐海洋 (銷售部)

產(chǎn)品簡介

膜厚測量儀 厚度測量儀

詳細(xì)介紹

膜厚測量儀
 

膜厚測量儀 產(chǎn) 品 說 明 薄膜測量 薄膜厚度 新澤西Salt Point公司開發(fā)的薄膜監(jiān)測系統(tǒng)(TDS),在寬帶溶解率監(jiān)測儀(DRM)中集成了一套海洋光學(xué)多通道光譜儀,用來分析半導(dǎo)體和光學(xué)工業(yè)中使用的超薄的抗蝕膜。 DRM幫助客戶確定膜層的厚度以及應(yīng)用抗蝕膜后的材料溶解速率這都是控制薄膜生產(chǎn)工藝的重要參數(shù)。在初始化測試中,薄膜監(jiān)測解決方案主要針對膜厚<300nm的應(yīng)用,相對而言,傳統(tǒng)的單色和多色干涉測量方法在該測量應(yīng)用中的效果較差。在測試中,TDS采用了一個SD2000雙通道光譜儀,通過一個R系列反射探頭來實現(xiàn)反射式測量。 TDS在其上的報告中的結(jié)果顯示了多波長DRM系統(tǒng)能夠在離散的時間間隔內(nèi)測定薄膜厚度,傳統(tǒng)的DRM系統(tǒng)要監(jiān)測光阻材料比較困難,并且,通過免去了對離散的靜態(tài)的光學(xué)厚度測量工具的需求,也給研究者提供了相應(yīng)附加值。 目前,TDS提供了1-, 2-, 4- 和8-通道的配置。TDSzui近正好發(fā)布了它的L系列DRM產(chǎn)品線,新產(chǎn)品可以用于光阻材料的研發(fā),配方研究,光阻材料生產(chǎn)的質(zhì)量控制,以及聚合樹脂生產(chǎn)的質(zhì)量控制。L系列產(chǎn)品線包括多波長和多層分析算法,實現(xiàn)對零度薄膜的離散厚度測量,并且提供非線性溶解速率現(xiàn)象的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。更詳細(xì)的信息請訪問:www.thicknessdetection.com. 概要 附著在基底上的薄膜就如同一個標(biāo)準(zhǔn)具,當(dāng)觀察其表面的反射率時會看到一幅干涉條紋圖樣。當(dāng)組合不同折射率的材料時,條紋間隔的正弦曲線分布可以用來計算此薄膜的厚度。 光譜儀 USB4000-VIS-NIR (350-1000nm)適合用于薄膜的反射測量。光譜儀預(yù)先配置了#3光柵,它的閃耀波長在500nm;一個OFLV-350-1000濾光片可以屏蔽二級和三級衍射效應(yīng);以及一個25μm 狹縫,可以得到~1.5nm (FWHM)的光學(xué)分辨率。 取樣光學(xué)元件 R400-7-VIS/NIR反射式探頭,90°測量薄膜表面的鏡面反射。再加上一個LS-1鹵鎢燈光源和一個STANSSH高反射率鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)參考,組成一套取樣配置。 測量 從海洋光學(xué)的操作軟件中(見上圖)可以觀察到由薄膜基底的膜層產(chǎn)生的干涉光譜。分析zui大值和zui小值處的波長可以確定薄膜的厚度(已知薄膜的折射率)或者確定它的折射率(已知薄膜的厚度)。需要注意的是,樣本的厚度可能不是均勻的;建議測量薄膜的多個位置點。

光譜測試儀器

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光學(xué)精密機(jī)械

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光源

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光學(xué)影像

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探測器

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