深圳市南國(guó)實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: SSC測(cè)試,HIC測(cè)試,腐蝕試驗(yàn),成分分析,無(wú)損探傷,金相測(cè)試,機(jī)械性能測(cè)試 |
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更新時(shí)間:2023-12-17 09:12:41瀏覽次數(shù):314
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微觀形貌分析
:欽田田
:(同號(hào))
項(xiàng)目名稱:微觀形貌分析http://www.rd-test。。com/projectinfo-236.html
檢測(cè)目的:觀察微觀區(qū)域的形貌
檢測(cè)范圍:電子元器件、汽車電子、醫(yī)療、通訊、手機(jī)、電腦、電氣等
項(xiàng)目簡(jiǎn)介:按照具體檢測(cè)要求,通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀察的檢測(cè)項(xiàng)目。
通常光學(xué)顯微鏡的觀察倍數(shù)zui大為1000倍,檢測(cè)面必須平整;掃描電鏡對(duì)平整度要求不高,斷口形貌也能觀察,需要樣品具有導(dǎo)電性,一般的掃面電鏡可清晰觀測(cè)的zui大倍數(shù)為5000~20000倍不等(具體看樣品的導(dǎo)電性,以及氣體殘余情況)。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的可清晰觀測(cè)的zui大倍數(shù)在10萬(wàn)倍以上。
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