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顆粒圖像儀的價(jià)位

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北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

北京冠測(cè)微粒測(cè)控技術(shù)有限公司是粉體、納米、微粒研究測(cè)試機(jī)構(gòu)，專(zhuān)注于粉體顆粒材料檢測(cè)分析技術(shù)的自動(dòng)化、試驗(yàn)方法的創(chuàng)新和新技術(shù)的應(yīng)用。

詳細(xì)介紹

顆粒圖像儀的價(jià)位

· 產(chǎn)品詳情

GCTX-2000A/B圖像顆粒分析系統(tǒng)是北京冠測(cè)精電儀器有限公司研制的圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，GCTX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，GCTX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。它是將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。基本工作流程是通過(guò)數(shù)字?jǐn)z像頭和顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來(lái)并傳輸?shù)诫娔X中，用專(zhuān)門(mén)的顆粒圖像分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析，通過(guò)顯示器和打印機(jī)輸出分析結(jié)果。本系統(tǒng)具有直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)，不僅可以用來(lái)觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、長(zhǎng)徑比等指標(biāo)，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。

一、指標(biāo)與性能
1、測(cè)試范圍： 1-3000μm。
2、系統(tǒng)放大倍數(shù)：4000倍。
3、zui大分辨率：0.1μm。
4、重復(fù)性誤差：<3%（不包含樣品制備因素造成的誤差）。
5、數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：500萬(wàn)像素。
6、顯微鏡：國(guó)產(chǎn)生物顯微鏡、進(jìn)口生物顯微鏡、金相顯微鏡。
7、標(biāo)尺刻度：10μm。
8、分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等。
9、自動(dòng)分割速度：< 1秒。
10、分割成功率：> 93% 。
11、軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP。
12、接口方式：RS232或USB方式。

二、適用領(lǐng)域
1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。
2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。
3、用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。

三、測(cè)試原理
通過(guò)對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(zhǎng)徑比等，再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布等信息。

四、功能強(qiáng)大的圖像處理與分析軟件
1、圖像處理功能：可以對(duì)圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換、顏色轉(zhuǎn)換、自動(dòng)分割、刪除、旋轉(zhuǎn)、平滑、剪切、粘貼、濾波、縮放、填充等處理。也可以對(duì)多幅圖形進(jìn)行批量處理，提高樣品的代表性，是處理結(jié)果更加準(zhǔn)確、真實(shí)、可靠。
2、數(shù)據(jù)處理功能：通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行處理后，電腦就自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出顆粒數(shù)、面積、體積、直徑、圓形度分布、長(zhǎng)徑比分布以及粒度分布數(shù)據(jù)與圖形。
3、打印功能：可以打印包含原始圖像的中英文兩種格式的各種分析結(jié)果報(bào)告(包括粒度分布數(shù)據(jù)、分布圖形、顆粒數(shù)、長(zhǎng)徑比等)。

北京冠測(cè)微粒測(cè)控技術(shù)有限公司是的粉體、納米、微粒研究測(cè)試機(jī)構(gòu)，專(zhuān)注于粉體顆粒材料檢測(cè)分析技術(shù)的自動(dòng)化、試驗(yàn)方法的創(chuàng)新和新技術(shù)的應(yīng)用。

業(yè)務(wù)范圍：精密科研儀器、質(zhì)量檢測(cè)儀器研發(fā)生產(chǎn)，同時(shí)還承接檢測(cè)服務(wù)，適用于科研院所、生產(chǎn)企業(yè)科研及質(zhì)量檢測(cè)等

微粒納米研究測(cè)試中心

公司名稱(chēng)：北京冠測(cè)微粒測(cè)控技術(shù)有限公司

公司地址：北京市中關(guān)村昌平科技園區(qū)

： 56190449

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