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涂層測(cè)厚儀MiniTest2500/4500

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀作為MiniTest1100-4100系列的升級(jí)產(chǎn)品，為涂層測(cè)量領(lǐng)域的任務(wù)提供了多種探頭、不同的校準(zhǔn)方法和評(píng)估選項(xiàng)。
MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀具有IP65等級(jí)，顯示屏和背光鍵盤，以及其他有用的功能?？纱鎯?chǔ)達(dá)200萬(wàn)個(gè)測(cè)量值，通過(guò)USB接口向計(jì)算機(jī)傳輸數(shù)據(jù)。MiniTest4500還提供藍(lán)牙連接。
MiniTest2500/4500兼容MiniTest1100系列探。

相關(guān)產(chǎn)品
MiniTest1100系列(已停產(chǎn))

	儀器特點(diǎn)

- 鋼上的非磁性涂層厚度范圍可達(dá)0~50 mm
- 用于有色金屬上的絕緣涂層厚度范圍可達(dá)0~100 mm
- 耐溫探頭，溫度250°C和350°C
- 測(cè)量細(xì)管內(nèi)壁的直角加長(zhǎng)桿探頭
- 探頭都配有耐磨表面。

	功能介紹

型號(hào)	MiniTest2500	MiniTest4500
可存儲(chǔ)的讀數(shù)總數(shù) 批組數(shù)量具有獨(dú)立校準(zhǔn)值的應(yīng)用程序存儲(chǔ)數(shù)量具有相同校準(zhǔn)值的批組每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)的批組數(shù)量	2000000 1 - -	2000000 超過(guò)9500 99 99
統(tǒng)計(jì)功能(每批組)	kvar, n, max., min.	kvar, n, max., min., CP, CPK
校準(zhǔn)	-	如果無(wú)基材使用，則通過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
補(bǔ)償功能	-	用于從讀數(shù)中加/減一個(gè)恒定值
限值設(shè)置(用戶自定義)	-	超出限制時(shí)的光信號(hào)和聲音信號(hào)報(bào)警
測(cè)量單位	μm, mm, cm, mils, inch
接口可升級(jí)接口	USB -	USB和藍(lán)牙 4.0 報(bào)警輸出，腳踏開(kāi)關(guān)觸發(fā)，RS 232接口
電源/每次更換電池的工作時(shí)間	3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(shí)(不使用背光)
規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376
顯示	53 x 46 mm，帶背光
操作溫度/存儲(chǔ)溫度	10 ~60°C / –20 ~ 70°C
尺寸/重量	53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護(hù)套90g
防護(hù)等級(jí)	IP 65

	探頭選擇

探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

探頭	量程	低端分辨率	誤差	曲率半徑(凸/凹)	測(cè)量區(qū)域直徑	基體厚度
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	0.75/5mm	3mm	0.1mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+20μm)	10/30mm	40mm	2mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/5mm	2mm	50μm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
FN1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
F2HT	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm

注：	F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 FN1.6/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量 N.08Cr用于測(cè)量銅上鍍鉻。 F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在達(dá)250°C或350° C表面溫度的熱表面上進(jìn)行涂層厚度測(cè)量