李小姐
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當前位置:廣電計量檢測集團股份有限公司>>失效分析>>汽車>> 功率測試功率循環(huán)測試強大專家技術(shù)團隊
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號功率測試
品 牌廣電計量
廠商性質(zhì)工程商
所 在 地廣州市
更新時間:2024-09-04 08:42:28瀏覽次數(shù):1156次
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車規(guī)功率模塊AQG324認證服務(wù)可加急檢測
加工定制 | 是 | 服務(wù)區(qū)域 | 全國 |
---|---|---|---|
服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5天 | 服務(wù)類型 | 元器件篩選及失效分析 |
服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認可 | 證書報告 | 中英文電子/紙質(zhì)報告 |
增值服務(wù) | 可加急檢測 | 是否可定制 | 是 |
是否有發(fā)票 | 是 |
功率循環(huán)測試強大專家技術(shù)團隊服務(wù)內(nèi)容
廣電計量功率循環(huán)測試通過負載電流加熱和開關(guān)斷動作,來模擬器件工作中的結(jié)溫波動,通過一定程度的加速老化,以提前暴露器件封裝的薄弱點,評估封裝材料的熱膨脹系數(shù)差異對器件壽命的影響,是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。
功率循環(huán)測試強大專家技術(shù)團隊服務(wù)范圍
車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。
檢測標準
● DINENISO/IEC17025:General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories
● IEC 60747系列:Semiconductor Devices, Discrete Devices
● IEC 60749系列:Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic Test Methods
● DIN EN 60664系列:Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems
● DIN EN 60069系列:Environmental testing
● JESD22-A119:2009:Low Temperature Storage Life
檢測項目
根據(jù)負載電流加熱的時長不同,功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)(PCsec), 分鐘級功率循環(huán)(PCmin),如電力電子模塊AQG324測試標準規(guī)定,不同的負載電流加熱時長,考察的封裝體對象也不同。如下表:
測試項目 | 加熱時長 | 考察對象 |
秒級功率循環(huán)(PCsec) | Ton<5s | 靠近芯片附近的互連層 |
分鐘級功率循環(huán)(PCmin) | Ton>15s | 離芯片互連較遠的互連層 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
測試周期
常規(guī)5-7個工作日
服務(wù)背景
功率循環(huán)測試被稱為考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗,尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展,是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測試不同的是,功率循環(huán)測試原理雖然簡單,但測試技術(shù)、測試方法和數(shù)據(jù)處理卻涉及到半導(dǎo)體物理、電磁學(xué)、傳熱學(xué)、結(jié)構(gòu)力學(xué)和信號分析等多學(xué)科交叉,處理不當將得到錯誤的結(jié)論。
我們的優(yōu)勢
廣電計量在Si基功率半導(dǎo)體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗,是SiC領(lǐng)域國內(nèi)的第三方檢測機構(gòu)之一,為眾多半導(dǎo)體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。
在功率循環(huán)測試方向,廣電計量引進多臺西門子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A,同時還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺,能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式,并且滿足20℃~125℃的底溫要求,產(chǎn)能充足。
手法,可以協(xié)助廠家進行AQG324的認證檢測;擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專家,可以針對功率半導(dǎo)體進行失效分析及可靠性驗證方案的設(shè)計與執(zhí)行。
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