AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試可加急檢測(cè)服務(wù)內(nèi)容

廣電計(jì)量目前已實(shí)現(xiàn)12位AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片電性能測(cè)試程序的開(kāi)發(fā)。

服務(wù)范圍

數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號(hào)的數(shù)字化、圖像信號(hào)的處理和識(shí)別、數(shù)字通信和語(yǔ)音信息處理等將數(shù)字量和模擬量互相轉(zhuǎn)換電路的儀器設(shè)備。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理。

相關(guān)資質(zhì)

CMA、CNAS

測(cè)試周期

開(kāi)發(fā)周期：4-8周；常規(guī)測(cè)試周期：3-5個(gè)工作日。

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試可加急檢測(cè)服務(wù)背景

在現(xiàn)代工業(yè)化社會(huì)中，工業(yè)的生產(chǎn)場(chǎng)景涉及到方方面面與計(jì)算機(jī)協(xié)同生產(chǎn)的需求。在數(shù)字系統(tǒng)的應(yīng)用中，通常要將一些被測(cè)量的連續(xù)變化的物理量通過(guò)傳感器送到數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行加工處理，經(jīng)過(guò)處理獲得的輸出數(shù)據(jù)又要送回物理系統(tǒng)，對(duì)系統(tǒng)物理量進(jìn)行調(diào)節(jié)和控制。

在實(shí)際生產(chǎn)場(chǎng)景中，是由設(shè)備的傳感器對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的電壓、電流、壓力、溫度、位移、流量等的實(shí)時(shí)改變進(jìn)行記錄并轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)。傳感器輸出的模擬電信號(hào)需轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)（計(jì)算機(jī)內(nèi)部需要的離散數(shù)字量，即二進(jìn)制數(shù)、十進(jìn)制數(shù)等），數(shù)字系統(tǒng)才能對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行處理。這種模擬量到數(shù)字量的轉(zhuǎn)換稱(chēng)為模-數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換。處理后獲得的數(shù)字量有時(shí)又需轉(zhuǎn)換成模擬量返回到實(shí)際生產(chǎn)場(chǎng)景中指引設(shè)備進(jìn)行后續(xù)工作，這種轉(zhuǎn)換稱(chēng)為數(shù)-模（D/A)變換。

A/D轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter簡(jiǎn)稱(chēng)為ADC）和D/A轉(zhuǎn)換器(Digital to Analog Converter簡(jiǎn)稱(chēng)為DAC）是數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)的接口電路。通過(guò)A/D和D/A兩個(gè)方向的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，即可實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)設(shè)備與計(jì)算機(jī)的協(xié)同生產(chǎn)，如汽車(chē)流水線(xiàn)上的機(jī)械手和雷達(dá)。

越復(fù)雜的生產(chǎn)場(chǎng)景對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高，電性能測(cè)試是檢驗(yàn)AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

我們的優(yōu)勢(shì)

廣電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，可為客戶(hù)提供完整的失效分析檢測(cè)服務(wù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效，找到失效根源。同時(shí)，我們可針對(duì)客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢(xún)、協(xié)助客戶(hù)開(kāi)展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測(cè)試服務(wù)，如配合客戶(hù)開(kāi)展NPI階段驗(yàn)證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶(hù)完成批次性失效分析。

常見(jiàn)問(wèn)題

Q：AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試常見(jiàn)誤差有哪些？

A：零點(diǎn)誤差、增益誤差、差分非線(xiàn)性誤差及積分非線(xiàn)性誤差。