變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)，是我公司的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。
  標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品電容容值（CX）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。 
數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。 
三、技術(shù)參數(shù)：
1、抗干擾方式：變頻抗干擾
2、測(cè)試方式：正接法  反接法  自激法  外接法  
3、測(cè)量范圍：     
   電容量：內(nèi)接高壓  <3pF~60000pF/10kV   60pF~1μF/0.5kV 
   外接高壓  3pF~0.3μF/10kV    小分辨率 0.01pF  有效數(shù)字五位   
   介損：不限,小分辨率0. 01%
4、準(zhǔn)確度：
   電容量：±(1.5%讀數(shù)+2pF)        介損：±(2%讀數(shù)+0.09%)
   內(nèi)接試驗(yàn)電源：0.5~10kV  電壓緩升緩降      45、50、55、60、65Hz單頻   
   45/55Hz自動(dòng)雙頻測(cè)試        大輸出電流200mA
   自激電源3~50V變頻          大輸出電流20A
5、測(cè)量時(shí)間：約30秒（與測(cè)量方式有關(guān)）    
6、輸入電源：供電電源180~240VAC   50Hz（市電或發(fā)電機(jī)供電）
7、工作環(huán)境：溫度范圍：－10℃~50℃     相對(duì)濕度<90%