TESCAN掃描電鏡S9000X Xe Plasma FIB-SEM
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深圳市譜賽斯科技有限公司
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更新時間：2022-08-22 15:43:36瀏覽次數(shù)：261次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線超聲波影像裝置FineSATⅢ一、概要超聲波影像裝置FineSAT是使用超聲波非破壞獲得半導體封裝、電子零部件、陶瓷、金屬樹脂零部件等的內部孔隙、裂紋、剝離等缺陷影像的裝置
超聲波影像裝置FineSAT Ⅲ
一、概要
超聲波影像裝置FineSAT是使用超聲波非破壞獲得半導體封裝、電子零部件、陶瓷、金屬樹脂零部件等的內部孔隙、裂紋、剝離等缺陷影像的裝置。X射線裝置、紅外線檢查裝置、光學顯微鏡檢查不出來的納米級縫隙也能檢測出來。
FineSAT Ⅲ是FineSAT的第三代，在將高評價的分辨率等基本功能提升至Z高水準的同時，還充實了包括高速自動測量、透射?反射同時測量、自動判斷缺陷功能等各種分析軟件。而且，還提高了使用便捷性（如探傷數(shù)據(jù)批量保存等），可適用于從產線中的大量檢查到研究、開發(fā)等廣泛用途。
二、特點
還標準裝備防止機械、電氣事故的機構，如在開口部（開口部擴大，方便樣品進出）設置防止誤操作的區(qū)域傳感器等。
搭載容易固定小樣品的磁板、日常檢查*的標準試驗片等裝備。除此之外，在軟件方面，也針對以豐富幫助功能等為代表的增強日常操作性進行了極其細微的應對。
為了更容易使用、更安全地作業(yè)，對細節(jié)進行了精心考慮，如兩側的大型窗口、LED照明、電源開關的保護蓋、前面的透明板可安裝拆卸等。
*還有固定彎曲印刷電路板的治具、測定時防止樣品背面沾水的局部浸水裝置等選購件，請隨時咨詢。
三、功能
種類豐富的探頭
用于反射法時，從低頻到高頻，從短焦距到長焦距，適合測定對象和測定條件的探頭豐富齊全，除此之外，透射法探頭也，可找到合適客戶的測定對象的探頭。 我們還可幫助您選定合適的探頭。
*我們還可根據(jù)您的要求，生產測定時不讓測定對象物沒在水下的局部浸水型探頭。
FineSATⅢ進一步發(fā)展了波形解析、測量、剝離判定、深度信息等解析軟件
可以實時比較±相位、強度和深度數(shù)據(jù)。另外，在波形重疊顯示時，即使是不同的時間軸，也可以自動調整時間軸并保存。 另外，通過的像素間插值處理和自動對比度等方法，可以毫不費力地得到更易看懂的數(shù)據(jù)。
在多閘門功能方面，Z多可設定64個柵場，標準配備了批量保存各閘門內數(shù)據(jù)和測定條件及在1個文件中保存圖像數(shù)據(jù)的功能。
另外，還標準配備了導入所有點的波形、離線變更閘門位置、重新描繪影像的功能。如果有可進行FFT解析和差分成像處理的容量掃描功能(選購件)，追加3D查看器軟件(選購件)后，可構筑更加立體的超聲波影像數(shù)據(jù)，強力地支持內部的結構分析。
可同時顯示反射強度和深度的配置，進行復合評價。
可實時對±相位、強度、深度、極性強調進行比較解析。
3D瀏覽器軟件(選購件)
可通過3D恢復形狀、使之可視化，使之在水平、垂直方向同時進行360°旋轉，在任意視角觀察，在任意位置顯示截面。
四、規(guī)格
| FS100Ⅲ | FS200Ⅲ | FS300Ⅲ | |
| 支持探頭頻率(MHz)* | 5～75 | 5～140 | 5～300 |
| 有效掃描范圍（mm） | 350×350** | ||
| 探頭高度行程(mm) | 80 | ||
| Z小掃描間距(µm) | 0.5 | ||
| Z大掃描速度(mm/s) | 1,000 | ||
| 外形尺寸(mm) | 1,590×1,340×940 | ||
| 質量(kg) | 約380 | ||
| 電源規(guī)格*** | AC100V/15A 50/60Hz | ||
* 不滿5MHz的探頭請咨詢。
** 此范圍以上的掃描范圍也可以應對，請咨詢。
***面向海外時，其他規(guī)格也可應對。
還備有英文版軟件。
五、尺寸圖
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