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產(chǎn)品型號(hào)DiaInspect-OSM
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更新時(shí)間：2022-05-05 09:42:16瀏覽次數(shù)：220次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線DiaInspect-OSM超硬磨料圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)DiaInspectOSM是一種數(shù)字顯微鏡，用于工業(yè)金剛石和其他磨料的尺寸和形狀分析
DiaInspect-OSM超硬磨料圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)
DiaInspect OSM是一種數(shù)字顯微鏡，用于工業(yè)金剛石和其他磨料的尺寸和形狀分析。這種高分辨率的電動(dòng)顯微鏡適用于從微米到鋸片粒度的各種粒度。
主要特點(diǎn)：
●每個(gè)參數(shù)的直方圖，每個(gè)參數(shù)組合的散點(diǎn)圖
●所有參數(shù)組合示意圖
●虛擬排序（2D和3D）
●具有多聚焦功能的深聚焦圖像
●孔隙度掃描模塊
●曲面和3D三維掃描模式
●一鍵式報(bào)告生成
●一鍵式數(shù)據(jù)傳輸至EXCEL結(jié)果表
●真實(shí)粒子、圖像和被測(cè)參數(shù)之間的交互連接
DiaInspect OSM是一種自動(dòng)控制顯微鏡，專門用于磨料和工具的尺寸、形狀和分段分析。它涵蓋了從微米到粗砂的整個(gè)粒度范圍。
操作原理：
一定數(shù)量的顆粒必須分散到玻璃板上。當(dāng)檢查粒徑為幾微米的顆粒時(shí)，建議濕敷粉末。玻璃板通過XY臺(tái)在掃描運(yùn)動(dòng)中移動(dòng)。陣列大小將根據(jù)實(shí)際放大級(jí)別自動(dòng)選擇。圖像采集部分從玻璃板的每個(gè)部分獲取并分析連續(xù)圖像，因此可以以高圖像分辨率檢測(cè)大量單個(gè)粒子。
技術(shù)數(shù)據(jù)：
電源：110-230伏交流電。
測(cè)量范圍
粒度：1µm…3mm
掃描范圍：76 x 52毫米（XY-stage）
處理時(shí)間：約15分鐘（制備和測(cè)試2000個(gè)粒度為50µm的顆粒）
系統(tǒng)要求：
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0
CPU核心數(shù)：>=2
CPU時(shí)鐘：>=2GHZ
內(nèi)存：8GB
監(jiān)視器：2x>=22英寸（>=1680x1050）
計(jì)算參數(shù)：
每個(gè)粒子計(jì)算了20多個(gè)參數(shù)
硬件：
該系統(tǒng)的主要部分是5級(jí)放大的專業(yè)顯微鏡、數(shù)控照明裝置和高品質(zhì)的數(shù)字工業(yè)攝像機(jī)。顯微鏡配有電機(jī)驅(qū)動(dòng)的Z軸和電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X軸和Y軸機(jī)械分級(jí)設(shè)備。所有軸由操縱桿或直接由控制程序控制。攝像機(jī)通過USB3連接到圖像采集系統(tǒng)，采集系統(tǒng)可以通過軟件進(jìn)行圖像處理。
軟件：
系統(tǒng)操作由一個(gè)易于操作的程序界面控制，該界面在普通PC機(jī)上運(yùn)行。
報(bào)告：
控制程序生成打印報(bào)告，其中包含每個(gè)參數(shù)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果以及直方圖和密度圖。對(duì)于采集數(shù)據(jù)的科學(xué)工作，傳遞函數(shù)會(huì)將所有粒子的每個(gè)數(shù)字復(fù)制到EXCEL工作簿中。
特色：
控制程序顯示一個(gè)數(shù)據(jù)網(wǎng)格，其中一行包含單個(gè)粒子的參數(shù)。只需單擊任意一行，所述粒子的圖片就會(huì)顯示在顯示器上。因此，粒子圖像和數(shù)字之間的相關(guān)性更容易理解，這些數(shù)字在數(shù)字上描述了粒子的外觀。
一個(gè)特殊的附加組件是虛擬分揀設(shè)備。它允許對(duì)檢查的粒子應(yīng)用虛擬排序過程：排序范圍可以通過上述兩個(gè)參數(shù)的隨機(jī)數(shù)組。密度圖顯示了粒子沿選定參數(shù)的分布。在哪個(gè)框中，程序必須將粒子放置在密度圖的某個(gè)區(qū)域內(nèi)，只需拖動(dòng)鼠標(biāo)即可。在“排序”之后，程序會(huì)顯示每個(gè)框中的粒子數(shù)量，并為每個(gè)框生成一張圖片，顯示現(xiàn)在在框中的粒子。
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