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ELECTRONICA激光掃描儀Q6-B

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更新時(shí)間：2024-05-07 11:33:52瀏覽次數(shù)：139次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹QuellTech激光掃描儀利用三角測(cè)量原理來檢測(cè)表面的二維輪廓

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

QuellTech 激光掃描儀利用三角測(cè)量原理來檢測(cè)表面的二維輪廓。通過特定的光學(xué)組件，點(diǎn)狀激光束被擴(kuò)展為一條線并投射到感興趣的對(duì)象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后導(dǎo)向二維接收芯片。

根據(jù)已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個(gè)像素計(jì)算準(zhǔn)確的校準(zhǔn)高度值 (z)，從而在樣本的 x-z 平面中產(chǎn)生準(zhǔn)確的輪廓。如果掃描儀在樣品（y 軸）上引導(dǎo)，則會(huì)創(chuàng)建一系列輪廓，在空間中形成三維點(diǎn)云。該點(diǎn)云可以通過軟件進(jìn)行尺寸控制。

性能特點(diǎn)