術(shù)語“接觸電阻測(cè)試”指的是設(shè)備閉合時(shí)，由設(shè)備表面條件和其他變量產(chǎn)生的電流阻力。當(dāng)以下人員交叉路徑時(shí)，可能會(huì)發(fā)生這種情況：
1.斷路器
2.接觸器
3.重傳
4.一組開關(guān)
5.連接器
接觸電阻測(cè)試確定電氣連接的電阻，例如終端、接頭、連接器、母線段和電纜連接。這些可以是任意兩個(gè)導(dǎo)體連接，例如電纜或母線段。歐姆表是用于執(zhí)行風(fēng)管測(cè)試的設(shè)備，因此，它有時(shí)被稱為風(fēng)管測(cè)試儀。
為什么需要接觸電阻測(cè)試？
為了保持?jǐn)嗦菲鞯慕】岛凸δ?，必須定期檢查觸點(diǎn)。由于維護(hù)不當(dāng)或連接斷開，可能會(huì)出現(xiàn)電弧、缺相甚至火災(zāi)。
增加的接觸電阻會(huì)導(dǎo)致載流能力降低和高電流連接中的損耗增加。通常，使用微/毫歐姆表或低歐姆表執(zhí)行導(dǎo)管測(cè)試。
接觸電阻測(cè)試有助于檢測(cè)觸點(diǎn)的微動(dòng)腐蝕以及診斷和預(yù)防接觸腐蝕?？梢酝ㄟ^增加必須調(diào)節(jié)的接觸電阻來創(chuàng)建具有顯著電壓降的系統(tǒng)。
接觸電阻測(cè)試的程序是什么？
目視檢查和接觸電阻測(cè)試是斷路器觸頭上進(jìn)行的兩項(xiàng)測(cè)試。
目視檢查包括檢查斷路器觸點(diǎn)是否存在電弧引起的點(diǎn)蝕以及觸點(diǎn)損壞或變形。
第二項(xiàng)檢查是接觸電阻測(cè)試。這是通過向觸點(diǎn)施加恒定電流并監(jiān)測(cè)它們兩端的電壓降來實(shí)現(xiàn)的。有必要將電阻值與制造商的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。此外，謹(jǐn)慎的做法是將當(dāng)前值與歷史記錄進(jìn)行比較。
這些測(cè)試必須同時(shí)進(jìn)行，因?yàn)橛|點(diǎn)可能具有高接觸電阻但仍會(huì)損壞。連接必須表現(xiàn)出足夠的接觸電阻并通過目視檢查測(cè)試才能被認(rèn)為是健康的。
接觸電阻測(cè)試的典型方法
微歐表通常使用四線 (Kelvin) 直流壓降測(cè)量接觸電阻，通過去除接觸電阻和點(diǎn)集電阻確保讀數(shù)更準(zhǔn)確。
接觸電阻測(cè)試使用兩個(gè)電流注入連接和兩個(gè)用于電壓降測(cè)量的電位引線進(jìn)行；電壓電纜必須連接到盡可能靠近要測(cè)試的連接，并且必須始終包含在由互鎖電流引線產(chǎn)生的鏈接電路內(nèi)。
接觸電阻是通過將微處理器控制的微歐表記錄的電壓降與接觸電阻進(jìn)行比較來確定的。同時(shí)，由連接中的熱 EMF 效應(yīng)引起的潛在誤差被添加到記錄的總電壓降中。當(dāng)電壓完好無損時(shí)，可以通過多種不同的方式進(jìn)行測(cè)量。在這種情況下，它們會(huì)導(dǎo)致接觸電阻測(cè)試不準(zhǔn)確。
接觸電阻會(huì)影響導(dǎo)熱系數(shù)，主要是在通過顆粒介質(zhì)傳輸熱量時(shí)。當(dāng)流體流動(dòng)改變通道時(shí)，靜水壓力會(huì)降低。
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