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北京布拉德科技發(fā)展有限公司
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更新時(shí)間：2022-10-21 15:22:42瀏覽次數(shù)：1384次
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J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測(cè)量，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊(duì)擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測(cè)量，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊(duì)擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運(yùn)輸效率高，J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應(yīng)。
掃描樣品：
J200LA-fs 的兩個(gè)相機(jī)提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點(diǎn)。
深層元素分布：
采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對(duì)植物葉片進(jìn)行深度的剖析。測(cè)量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實(shí)驗(yàn)使用飛秒激光器，10個(gè)脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部。
元素分布圖譜：
技術(shù)參數(shù)：
1、設(shè)備重量：600 lbs [272Kg](僅LA主機(jī))；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測(cè)器)；
2、LIBS檢測(cè)器：Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測(cè)器(僅適用于Tandem系統(tǒng))；
3、自動(dòng)X-Y軸：100mm X 100mm行程范圍，分辨率0.2微米；
4、激光光閘：自動(dòng)光閘保證激光能量穩(wěn)定；
5、供電要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險(xiǎn)10A；
6、激光安全等級(jí) 一級(jí)激光產(chǎn)品，樣品加載區(qū)域有光學(xué)安全隔離板，激光自鎖保護(hù)裝置。
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破，為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測(cè)量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，ICP源的顆粒能*被消解，產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時(shí)ICP-MS信號(hào)。用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)，在LA-ICP-MS測(cè)量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學(xué)計(jì)量物質(zhì)剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不*消解。
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