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半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

 MIK-2000H型手持式超聲波流量計(jì)具有體積小、質(zhì)量輕的特點(diǎn)，是真正意義上的便攜式超聲波流量計(jì)，該款產(chǎn)品具有數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)、測(cè)量精度高、全中文顯示、操作靈活等特點(diǎn)。產(chǎn)品一經(jīng)推出即得到廣大客戶的青睞，目前已遠(yuǎn)銷(xiāo)日本、韓國(guó)、歐美及中東地區(qū)，受到客戶的*。廣泛應(yīng)用于環(huán)保、石油化工、冶金、造紙、食品、制藥等行業(yè)。

    1、非接觸式測(cè)量方式、體積小、重量輕、攜帶方便

    2、傳感器安裝簡(jiǎn)便，適用于測(cè)量各種大小管道導(dǎo)聲介質(zhì)

    3、測(cè)量過(guò)程中不需要破壞管道，不需停產(chǎn)

    4、內(nèi)置可充電電池，可連續(xù)工作12小時(shí)以上

    5、結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固，的壓鑄鋁主機(jī)

    6、自動(dòng)記憶前64天，前64月，前5年的累積流量

    7、背光液晶全中文顯示瞬時(shí)流量及正、負(fù)、靜累計(jì)流量、流速、時(shí)間、模擬輸入等數(shù)據(jù)

    8、我們提供配套的軟件

為了解決眾多廠商在電池內(nèi)阻測(cè)試中遇到的難題，艾德克斯推出了IT5100系列電池測(cè)試儀。IT5100系列為用戶提供在線和離線兩種內(nèi)阻測(cè)試儀。其中在線內(nèi)阻測(cè)試儀通過(guò)對(duì)電池內(nèi)阻的在線測(cè)量和分析，可以快速而準(zhǔn)確的得到各個(gè)單體電池內(nèi)阻在使用或充電過(guò)程中的動(dòng)態(tài)變化，從而判斷電池是否失效。一般在線內(nèi)阻測(cè)試儀配合電池包充放電循環(huán)壽命測(cè)試較多，可反映出整個(gè)壽命周期中，電池包內(nèi)部單體電芯內(nèi)阻所呈現(xiàn)的動(dòng)態(tài)變化。IT5102在線內(nèi)阻測(cè)試儀可同時(shí)監(jiān)控16個(gè)單體電芯內(nèi)阻變化，并且支持多17臺(tái)主從并聯(lián)，將單體電芯測(cè)量數(shù)量擴(kuò)展到272個(gè)，電壓電阻測(cè)量分辨率可達(dá)0.1mV、0.1mΩ。

MIK-1158-J壁掛式超聲波流量計(jì)是一款應(yīng)用廣泛，通用經(jīng)濟(jì)的超聲波流量計(jì)。超低故障率與維護(hù)成本，成為流量計(jì)中的。

MIK-1158-J具有超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)。硬件數(shù)目少，低電壓工作，多脈沖發(fā)射，低功耗，高可靠性，抗干擾，適用性好。優(yōu)化的智能信號(hào)自適應(yīng)處理，用戶無(wú)需任何電路調(diào)整，就像使用萬(wàn)用表一樣方便簡(jiǎn)單。