XAU-4C 鍍層膜厚分析儀性能優(yōu)勢：

1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）

2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm

3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。   

4.*的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。   

5.高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積25mm²探測器。   

6.X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。 

XAU-4C 鍍層膜厚分析儀*的EFP算法

       專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎上，多元迭代開發(fā)出EFP核心算法，結合光路轉換的技術、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

RoHS檢測及標定