對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他

們所需的數據。 為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真

空系統能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另

外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

Q45 材料科學應用

為應對研究寬范圍的材料及結構及成分表征的需求，FEI Q45 SEM為應對當今的寬范圍研究需求的挑戰(zhàn)提供了靈活性和多功能。觀察任何樣品和獲得所有數據：表面和成分像可以和附件結合起來確定材料的性能和元素組成

優(yōu)點

在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導電或不導電樣品。

樣品制備工作最少化；低真空和環(huán)境掃描模式實現了無荷電成像及不導電樣品和/或含水樣品的分析

增加了除導電樣品之外的非導電樣品的分析能力，利用多級穿過透鏡的抽氣系統在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。

利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結果。

采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。

簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現高效操作。