| 品牌 | 自營(yíng)品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|
涂層測(cè)厚儀符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆采用密閉金屬外殼，經(jīng)久耐用，有效防止油污，提高儀器使用壽命；
◆CTG260高精度(通訊多用型）采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
◆可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
◆具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
◆可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
◆具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
◆具有電源欠壓指示功能；
◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
探頭技術(shù)參數(shù)表
測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |||
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||||
測(cè)量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||||
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||||
測(cè)量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 | ||
基體zui小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |||
zui小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 | |||
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
基體 | 覆蓋層厚度不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度超過(guò)100µm | |
如 鐵、鋼 | 被測(cè)面積的直徑大于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm |
等磁性金屬 | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F10 型測(cè)頭 0～10mm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F10 型測(cè)頭 0～10mm | |
被測(cè)面積的直徑小于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | |
F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm | ||||
如銅 、鋁 、 | 被測(cè)面積的直徑大于5mm | N1 型測(cè)頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm | ||
黃銅 、鋅 、錫 | |||||
等 有色金屬 | |||||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑大于7mm | - | - | CN02 型測(cè)頭10～200µm | |
基本配置：
CTG260主機(jī) 1臺(tái)
F1或N1測(cè)頭 1支
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 1套（含試片5片，基體1塊）
電池 2節(jié)
通訊電纜 1根
通訊軟件 1張
手提密碼箱 1個(gè)
隨機(jī)文件 1套（合格證，保修卡，說(shuō)明書(shū)等）
環(huán)保在線