上海昊量光電設(shè)備有限公司
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詳細摘要： 激光振動傳感器集成化/一體化光學技術(shù)昊量光電全新推出的激光振動傳感器光學元件集成化可以實現(xiàn)更加復雜的設(shè)計和更多的功能
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： Mprobe20單點薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點擊鼠標就可進行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm
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詳細摘要： 手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度...
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詳細摘要： 微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方
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詳細摘要： 美國Semisonsoft膜厚測量儀MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國Semisonsoft公司M...
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詳細摘要： MPROBE50INSITU–實時薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSI...
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詳細摘要： 薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計
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詳細摘要： 薄膜無損檢測系統(tǒng)，半導體無損檢測系統(tǒng)l產(chǎn)品特點系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術(shù)設(shè)計無損測量系統(tǒng)
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詳細摘要： 在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
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詳細摘要： Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設(shè)備
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詳細摘要： KALEO測量工作站【KALEOMTF簡介】KaleoMTF測量儀結(jié)合了與傳函儀的功能，是檢測鏡片組、鏡頭和光學系統(tǒng)性能的工具，可適用于鏡頭設(shè)計、原型制作或生產(chǎn)...
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詳細摘要： KALEO多波長激光模塊【KALEO多波長激光干涉儀模塊簡介】Kaleo多波長激光干涉儀是用于光學計量的模塊化系統(tǒng)
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詳細摘要： KALEOIR系列紅外光學測試臺【KALEOIR套件簡介】KaleoIR系列紅外光學測試臺使紅外鏡頭的質(zhì)量監(jiān)控變得快速有效，只需單次圖像采集即可獲得全部空間頻率...
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詳細摘要： 高精度測量儀便攜式、高精度光學傳遞函數(shù)（MTF）測量儀！法國公司高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF
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詳細摘要： 光腔衰蕩光譜方法（CRDS，CavityRing-DownSpectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù)，主要用于測量各種反射率大于99%...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 角分辨散射儀昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 圓二色譜儀-高通量對映體過量測量（ee）儀(EKKOCD)圓二色譜儀-高通量對映體過量測量（ee）儀(EKKOCD)，是手性分析/催化劑手性測量常用的技術(shù)，是指...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-06 在線留言
詳細摘要： MD激光測距傳感器（距離測量）MD激光測距傳感器系列只對自身發(fā)出的光源敏感，因此不受外界環(huán)境光等干擾
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-06 在線留言
詳細摘要： 非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
詳細摘要： 微型超聲/超聲振動傳感器針對超聲領(lǐng)域應用需求，昊量光電全新推出了一套完整的臺架式超聲儀
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