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免費(fèi)測試！成像/成像/成像樣品測試服務(wù)免費(fèi)！光譜成像/光電流成像/熒光壽命成像樣測試服務(wù)測試內(nèi)容單點(diǎn)拉曼單點(diǎn)熒光拉曼mapping熒光mapping光電流mapping熒光壽命mapping光電流成像和熒光壽命成像活動(dòng)規(guī)則掃描下面二維碼，轉(zhuǎn)發(fā)“韓國Nanobase拉曼光譜/熒光壽命/光電流成像系統(tǒng)介紹"至朋友圈并集贊10個(gè)以上

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可供測試詳表

測試項(xiàng)目	測試內(nèi)容	測試條件	激發(fā)波長	探測器水平
拉曼測試	拉曼光譜、二維	成像范圍：200um×200um（40×物鏡下）,空間分辨率：<>	激發(fā)波長：532nm/785nm，光譜分辨率：0.12nm	2000 × 256 pixels, 15 μm 像素寬度 (iVAC316, Andor)
PL測試	PL光譜、PL二維成像		激發(fā)波長：405nm/532nm	2000 × 256 pixels, 15 μm 像素寬度 (iVAC316, Andor)
測試	瞬態(tài)熒光壽命曲線、二維熒光壽命成像		激發(fā)波長：405nm	系統(tǒng)響應(yīng)度：＜200ps 測量范圍12.5ns-32us
光電流測試	I-V曲線、I-t曲線、二維光電流成像		激發(fā)波長：405nm,532nm,785nm	Semishare高精度 Keithley2400源表電壓源/量程：200v 測量分辨率：1pA/100nV