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表面電阻率測(cè)定儀

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更新時(shí)間:2020-03-24 23:40:29瀏覽次數(shù):273

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加工定制    
表面電阻率測(cè)定儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I,通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以

電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流

過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而

詳細(xì)介紹

一、表面電阻率測(cè)試儀測(cè)試儀概述

    本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕

準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍*寬,準(zhǔn)確

度的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為

10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便, 適用于橡

膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)

電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。

 

二、體積表面電阻率測(cè)定儀主要特點(diǎn)

電阻測(cè)量范圍寬 1×104Ω ~1×1018Ω

電流測(cè)量范圍為 2×10-4A ~1×10-16A

體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或

不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。

既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流

 

三、體積表面電阻率檢測(cè)儀技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測(cè)量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流測(cè)量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式:數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度:1% (*注)

6、使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對(duì)濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、儀器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm

10、質(zhì)量: 約2.5KG

 

四、體積表面電阻率測(cè)試儀工作原理

    根據(jù)歐姆定律,被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V

固定,通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,

而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無(wú)窮大時(shí),電流為零,即表頭的零位處是∞,其

附近的刻度非常密,分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí),其電壓V也會(huì)有些變

化,所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

表面電阻率測(cè)定儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I,通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以

電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流

過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而

變,所以,即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大,其測(cè)量精度很高(),

從理論上講其誤差可以做到零,而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。

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