SF730--將三豐科技多年的超聲經(jīng)驗和專家級技術融合到一臺便攜式探傷儀中，采用獨的方波激勵信號處理技術，利用人體工程的優(yōu)化結構設計，實現(xiàn)單手操作。

SF730全數(shù)字超聲波探傷儀性能特點：
操作簡易,按鍵定義明確，實現(xiàn)單手握持操作。
波形顏色顯示不同，區(qū)分一次波、二次波。
根據(jù)環(huán)境選擇背景色，亮度可自由設定，強光、弱光環(huán)境，清晰顯示。
高壓方波發(fā)射、穿透力強，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求。
寬頻帶高分辨率，檢出率高  
自由設置幅度值，使閘門內(nèi)回波自動調(diào)節(jié)到幅度，提高檢測速度。
SD卡存儲設計，全程、連續(xù)、動態(tài)、大容量實時記錄檢測回波、數(shù)據(jù)
缺陷定位：實顯水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷定量：實顯SL定量值
缺陷定性：通過包絡波形，人工經(jīng)驗判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
存儲數(shù)據(jù)無需主機與電腦連接后安裝驅動，只需通過U盤便將儀器內(nèi)數(shù)據(jù)快速導出。
內(nèi)置AWS D1.1/D1.5、API 5UE評價標準        
   
SF730全數(shù)字超聲波探傷儀技術參數(shù)：
通道數(shù)：      100組通道
工作頻率：     0.5 ~ 20MHz
總增益量：     110dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調(diào)節(jié))
探測范圍：     0 ~ 10000mm(鋼中縱波)
檢波方式：數(shù)字檢波
衰減器精度：<+1dB/12dB
波形顯示方式：射頻波，檢波 (全波、負或正半波)
聲速范圍：     0 ~ 15000m/s
水平線性誤差： ≤ 0.1%
垂直線性誤差： ≤ 3%
動態(tài)范圍：     ≥ 40dB
分辨力：       ≥ 38dB（5N14）