鉑悅儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：您可以利用 MarSurf CP select 技術(shù)以多高于傳統(tǒng)測(cè)頭系統(tǒng) 100 倍的速度進(jìn)行測(cè)量。不僅節(jié)省了時(shí)間，也降低了成本。
產(chǎn)品型號(hào)：MarSurf CP select所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MICRON3D彩色掃描機(jī)是一種復(fù)合解決方案，用于對(duì)物體進(jìn)行3D數(shù)字化處理，并捕捉真實(shí)的顏色。
產(chǎn)品型號(hào)：MICRON3D color 24Mpix所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：SMARTTECH3DUNiverse 掃描儀既可以用于逆向工程的測(cè)量，也為數(shù)字對(duì)象的真實(shí)色彩掃描提供了可能性。
產(chǎn)品型號(hào)：SMARTTECH3D universe所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MarSurf CM 便攜設(shè)備，結(jié)合了之前的特征 與穩(wěn)固系統(tǒng)中早已成熟的HDR功能
產(chǎn)品型號(hào)：MarSurf CM 所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：Mahr 可對(duì) MarSurf CM select 進(jìn)行調(diào)整，使其適合客戶的要求。有豐富的硬件和軟件組件可供選擇。
產(chǎn)品型號(hào)：MarSurf CM select所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe UVVisSR所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MarSurf CM expert 針對(duì)測(cè)試和開發(fā)實(shí)驗(yàn)室用途進(jìn)行了優(yōu)化，符合非接觸式表面測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域的高要求。
產(chǎn)品型號(hào)：MarSurf CM expert所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe NIR所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：高分辨率、精密三維掃描儀 VDI/VDE標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證。
產(chǎn)品型號(hào)：MICRON3D color 10Mpix所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：TI980是多樣化的納米力學(xué)表征工具，是高校、研究所及工業(yè)界用戶的選擇
產(chǎn)品型號(hào)：TI 980所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe RT所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：小巧易用的 MarSurf CM explorer 是表面精密測(cè)量和分析的完整解決方案。
產(chǎn)品型號(hào)：MarSurf CM explorer所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe MSP所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：布魯克UMT摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)由于其良好的兼容新和多模塊化設(shè)計(jì)得到了市場(chǎng)。
產(chǎn)品型號(hào)：CETR-UMT所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe Vis所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能。
產(chǎn)品型號(hào)：DEKTAK XT所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品
產(chǎn)品型號(hào)：Dektak XTL所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：同時(shí)碳纖維結(jié)構(gòu)的耐受能力強(qiáng)，適用于寬廣的溫度范圍。
產(chǎn)品型號(hào)：MICRON3D green所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe系列所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：鉆井信息系統(tǒng)是一個(gè)用于鉆井項(xiàng)目歸檔和管理重要數(shù)據(jù)的現(xiàn)場(chǎng)信息系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：SmartDIS所在地：更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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