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日本densoku便攜式薄膜測厚儀QNIx系列
日本densoku便攜式薄膜測厚儀QNIx系列
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無線測量無需電纜。除了有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)外，它還有助于防止測量過程中跌落事故的發(fā)生。
QNIx系列的功能
無需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測量
通過在出廠時(shí)輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來交付。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作，并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測量。
膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在常規(guī)的測量儀器中，通過用電纜連接儀器主體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。可以更快，更輕松地查看測量數(shù)據(jù)。
超輕量無線測量儀
探頭測得的數(shù)據(jù)被無線傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣，它也降低了被電纜卡住，阻礙和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。
難以斷裂且在被測物體上*跡的探頭
QNIx系列探頭由增強(qiáng)塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發(fā)生故障，也很容易拆卸和維修，從而縮短了維修時(shí)間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此可以安全地執(zhí)行測量而不會(huì)損壞要測量的物體（樣品）。
QNIx系列比較規(guī)格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | 方便的QNIx | |
| 可測量的電影 | [F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]非鐵材料上的非導(dǎo)電涂層 [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性，非導(dǎo)電膜厚度 | ||
| 材料識(shí)別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 用戶的轉(zhuǎn)換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 鐵/有色，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換 |
| 測量原理 | [F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流 | ||||
| 測量范圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0-3,000微米 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0-5,000微米 | 0-500微米 |
解析度 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點(diǎn)校正 用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100件 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒有校準(zhǔn)功能 | 沒有校準(zhǔn)功能 |
| 準(zhǔn)確性 | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％） | ±（2微米+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） | ±（10微米+ 5％） |
| 測量速度 | 1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘） | 600ms （約70次/分鐘） | 1,300ms （約46次/分鐘） | 1,500ms （約40次/分鐘） | 600ms （約100次/分鐘） |
便攜式薄膜測厚儀型號(hào)代碼指南
[F]鐵金屬材料上非磁性膜厚度的測量
[N]有色金屬材料上非導(dǎo)電膜厚度的測量
[FN]用一個(gè)探針測量黑色金屬和有色金屬上的薄膜厚度
[T]微型探針
[M]測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C
環(huán)保在線