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非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
日本進口g-freude非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
目前，圖像質(zhì)量正在從4K向8K轉(zhuǎn)變，光學(xué)系統(tǒng)的性能也越來越嚴峻。在這樣的技術(shù)背景下，除了表面形狀和偏心精度外，還規(guī)定了嚴格的中心厚度。
通常，當透鏡壁厚偏離設(shè)計值時，球差會增加，特別是對于微透鏡，壁厚誤差會導(dǎo)致球差擴大和焦點位置波動。然而，測量鏡片的中心厚度是一個相當困難的測量目標，并且沒有建立測量方法。
通常，當透鏡壁厚偏離設(shè)計值時，球差會增加，特別是對于微透鏡，壁厚誤差會導(dǎo)致球差擴大和焦點位置波動。然而，測量鏡片的中心厚度是一個相當困難的測量目標，并且沒有建立測量方法。
原因是測量點只有一個，難以明確定位。
另外，如果可能的話，我想避免接觸測量，這可能會導(dǎo)致劃痕。尤其是半導(dǎo)體曝光機
用大口徑鏡頭，玻璃材質(zhì)是有原因的，但要求光學(xué)性能，
壁厚公差。
測量的另一個原因是
我們響應(yīng)了在鏡片加工過程中（特別是在初始階段）測量壁厚的要求。軟
玻璃材料被稱為難玻璃材料，由于晶體取向問題，具有被快速刮削的特性。此外，材料成本
高，我們希望減少加工錯誤。因此，需要一種即使表面為磨砂玻璃
也可以測量壁厚的設(shè)備，在我們的實驗中，即使使用拋光砂 80 #
也可以測量，如下圖所示。
另外，如果可能的話，我想避免接觸測量，這可能會導(dǎo)致劃痕。尤其是半導(dǎo)體曝光機
用大口徑鏡頭，玻璃材質(zhì)是有原因的，但要求光學(xué)性能，
壁厚公差。
測量的另一個原因是
我們響應(yīng)了在鏡片加工過程中（特別是在初始階段）測量壁厚的要求。軟
玻璃材料被稱為難玻璃材料，由于晶體取向問題，具有被快速刮削的特性。此外，材料成本
高，我們希望減少加工錯誤。因此，需要一種即使表面為磨砂玻璃
也可以測量壁厚的設(shè)備，在我們的實驗中，即使使用拋光砂 80 #
也可以測量，如下圖所示。
為了解決這些問題，我們在5年前開發(fā)了一種非接觸式鏡片中心厚度測量機，
這種改進的CT-gauge具有以下性能。
◆ 產(chǎn)品配置（以下為標準配置規(guī)格）
1）高精度非接觸式位移計單元（2個）
2）精密XY掃描平臺
3）位移計賬驅(qū)動機構(gòu)
4）位移計4軸調(diào)整單元（2臺） )? FIX 載物臺規(guī)格)
5) 新開發(fā)的“內(nèi)置陶瓷
位移計單元（帶獨立傾斜調(diào)整機構(gòu)）” 6) 通用樣品夾持機構(gòu)（Φ10 至 100 ）
7) 專用控制盒
8) 筆記本電腦用于分析
9）的基礎(chǔ)上的3D地形和透鏡頂點分析算法定制軟件
HYBIRD峰值分析系統(tǒng)（HyPAS）安裝
10）專用布線電纜
* 1專用樣品架需要Φ10或更?。▎为毘鍪郏┑臉悠?/font>
* 2抗振動支架不是特別必要，但最好有一個操作環(huán)境溫度恒定的空調(diào)房間。
這種改進的CT-gauge具有以下性能。
◆ 產(chǎn)品配置（以下為標準配置規(guī)格）
1）高精度非接觸式位移計單元（2個）
2）精密XY掃描平臺
3）位移計賬驅(qū)動機構(gòu)
4）位移計4軸調(diào)整單元（2臺） )? FIX 載物臺規(guī)格)
5) 新開發(fā)的“內(nèi)置陶瓷
位移計單元（帶獨立傾斜調(diào)整機構(gòu)）” 6) 通用樣品夾持機構(gòu)（Φ10 至 100 ）
7) 專用控制盒
8) 筆記本電腦用于分析
9）的基礎(chǔ)上的3D地形和透鏡頂點分析算法定制軟件
HYBIRD峰值分析系統(tǒng)（HyPAS）安裝
10）專用布線電纜
* 1專用樣品架需要Φ10或更?。▎为毘鍪郏┑臉悠?/font>
* 2抗振動支架不是特別必要，但最好有一個操作環(huán)境溫度恒定的空調(diào)房間。
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