一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途 冷熱沖擊試驗(yàn)箱又稱為高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱交變?cè)囼?yàn)箱,本設(shè)備適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高。
一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途
冷熱沖擊試驗(yàn)箱又稱為高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱交變?cè)囼?yàn)箱,本設(shè)備適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和各種溫度沖擊及溫度變化的可靠性試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校,工廠,,研位,等單位。
二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)
試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱,位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi),以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響,同時(shí)便于機(jī)組的安裝和維修,電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究,具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。
1.鈑金結(jié)構(gòu)
設(shè)備結(jié)構(gòu)采用CAD三維立體建模技術(shù)設(shè)計(jì),電腦模擬拼裝后再整體拆分鈑金結(jié)構(gòu)圖紙分項(xiàng)加工,達(dá)到精密的外型結(jié)構(gòu)工藝設(shè)計(jì)要求。
外箱:采用符合國(guó)標(biāo)GB/T708-2006,厚度1.5mm冷軋板,雙面防銹靜電樹(shù)脂高溫噴塑。
內(nèi)膽:全部采用厚度為1.2mm的SUS#304耐熱耐寒不銹鋼密封焊接。
2.制冷系統(tǒng)
制冷系統(tǒng)采用的制冷、恒溫恒濕節(jié)能控制技術(shù)。比傳統(tǒng)設(shè)備節(jié)能30%以上、噪音控~Ud15%以上。
壓縮機(jī):采用歐美品牌壓縮機(jī)。
冷凍部件:采用國(guó)際品牌進(jìn)口零部件。
3.控制系統(tǒng)
控制器:采用全新進(jìn)口品牌工業(yè)微電腦控制器。抗積分飽和PID,BTC平衡調(diào)溫調(diào)濕控制方式。
電子部件:采用國(guó)際品牌進(jìn)口電子控制器件。
三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)參數(shù)
1、內(nèi)部尺寸: 40*35*30mm~80*75*75mm(W*H*D)
2、外部尺寸: 140*185*145cm~190*227*221cm(W*H*D)
3、測(cè)試去溫度設(shè)定范圍:150℃~(A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃)(高溫區(qū):+60℃~+150℃;低溫區(qū):-10℃~-65℃)
4、高溫區(qū)溫度升溫時(shí)間:RT~150℃約35min;
5、低溫區(qū)溫度降溫時(shí)間:RT~-70℃約55min;
6、試驗(yàn)方式:試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物在高溫槽與低溫槽之間移動(dòng)轉(zhuǎn)換,實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的
8、溫度控制精度度: ±0.5℃±2.0%℃(依量測(cè)規(guī)范:量測(cè)SENSOR置放點(diǎn),離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)
9、溫度回復(fù)時(shí)間:≦5分鐘/5≦5秒
10、試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。