LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)
LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀為160Hzi介電常數(shù)測試儀，該儀器采用多種*技術(shù)，包括自動化測量、全參數(shù)液晶顯示、DDS數(shù)字直接合成的信號源等技術(shù)。
優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
2. 信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字；信號頻率覆蓋比11000：1；采樣精度12BIT（高精度A/D采樣）；
3．Q值測量范圍：1～1000自動/手動量程；Q值分辨率0.1，4位有效數(shù)字；Q值測量工作誤差＜5%；
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
5．電感測量范圍：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能；
6．電容直接測量范圍：1pF～25nF，分辨率0.1pF，準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；
7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索；
8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm；
9． 合格指示預置功能范圍：5～1000；
10．LCD顯示參數(shù)F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿，平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司還生產(chǎn)其他型號介電常數(shù)儀，型號如下：
LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 10kHz～70MHz
LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 10kHz～110MHz
LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 100kHz～160MHz
LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)
