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更新時間：2022-08-09 10:26:24瀏覽次數(shù)：150次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線LDJD-B型介質(zhì)損耗因數(shù)和正切角測試儀以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號源，頻率范圍達(dá)10kHZ-110MHZ，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測量精度的精確性。
Φ
LDJD-B 介質(zhì)損耗因數(shù)和正切角測試儀
一、LDJD-B 介質(zhì)損耗因數(shù)和正切角測試儀 適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》
LDJD-B型介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀適用于10kHZ-110MHZ下固體電氣絕緣材料的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)（需要測液體介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)請與我司聯(lián)系）
二、主要參數(shù)
1.信號源頻率覆蓋范圍10kHz～110MHz
2.環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
3.消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4.主電容調(diào)節(jié)范圍：30～540pF
5.電容直接測量范圍：1pF～2.5uF
6.Q值測量范圍：1～1023，Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
7.S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿
平板電容器：
極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ50mm/Φ38mm可選 厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（測量液體介電常數(shù)請與我司聯(lián)系）
8. 主機(jī)尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280
三、術(shù)語和定義
1.介質(zhì)損耗角δ dielectric loss angle
由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
2.介質(zhì)損耗因數(shù) tanδ dielectric dissipation factor
損耗角δ的正切。
3.〔介質(zhì)〕損耗指數(shù) εr [dielectric] loss index
該材料的損耗因數(shù)tanδ與相對電容率εr的乘積。
四、影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。
1 頻率
因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的εr和tanδ幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。
電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。
2 溫度
損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個大值，這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)大值位置。
3 濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的。
注：濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)。
4 電場強(qiáng)度
存在界面極化時，自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加，其損耗指數(shù)大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)。
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