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上海奕縱精密儀器有限公司
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更新時間：2021-05-25 21:55:49瀏覽次數(shù)：561次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學(xué)零件，高級平臺，平板，導(dǎo)軌，機械密封件等。平面平晶特別適用于計量單位，檢測實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面基準(zhǔn)。
1、平面平晶采用無色光學(xué)玻璃制作，K9材質(zhì)，性能穩(wěn)定； 2、精度指標(biāo)和尺寸公差符合國家計量檢定規(guī)程JJG28-2000； 3、用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面工作面的平面度; 4、用于檢定高精度的平面零件，如：平面光學(xué)零件，高級平臺，平板，導(dǎo)軌; 5、檢測機械密封件等，特別適用于計量單位，檢測實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面基準(zhǔn); 6、是計量單位、機械密封件、質(zhì)檢單位、光學(xué)檢驗實驗室常用標(biāo)準(zhǔn)計量器具;
1、用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面工作面的平面度
2、用于檢定高精度的平面零件，如：平面光學(xué)零件，高級平臺，平板，導(dǎo)軌
3、用于檢測機械密封件的平面度，檢測機械密封環(huán)，密封件行業(yè)有著廣泛應(yīng)用。
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學(xué)零件，高級平臺，平板，導(dǎo)軌，機械密封件等。平面平晶特別適用于計量單位，檢測實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面基準(zhǔn)。
2、符合標(biāo)準(zhǔn)：JJG28-2000
3、產(chǎn)品視頻展示地址如下：
/videoshow-437.html
2、精度：按JJG_28-2000標(biāo)準(zhǔn)：
1） 平晶精度：1級
2）平面度誤差：a.直徑 30mm~60mm 0.03μm
b.直徑 80mm~150mm 0.05μm
c.直徑 200mm~300mm 0.08μm
d.直徑 300mm~600mm 0.1~0.2μm
3） 平行度誤差：Ⅰ級 0.6μm
4）平晶的材料：* K9光學(xué)玻璃
檢驗標(biāo)準(zhǔn) （GB 903 無色光學(xué)玻璃）
5） 平晶須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進行等溫，等溫時間不少于8h。
標(biāo)配：平晶1塊，合格證1張，鋁合金盒1個
選購：第三方計量檢定證書，鈉光燈箱。
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