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Apreo 2 超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

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更新時間：2022-08-22 15:43:36瀏覽次數：1351次

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產品簡介

：、400-1001-306

詳細介紹

Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和*的自動光學系統(tǒng)，實現灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。

Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎之上，新一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign（智能對中）技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執(zhí)行精細調節(jié)工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，Apreo 2 SEM是的在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM，遠的工作距離不再意味著低分辨成像，系統(tǒng)還可升級實時元素譜/圖成像功能，*了幾十年來傳統(tǒng)SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用戶都可以輕松地得到的分析效果。

發(fā)射源：高穩(wěn)定型肖特基場發(fā)射電子槍

分辨率：

型號	Apreo 2 C	Apreo 2 S
末級透鏡	靜電	復合
高真空
15kV	0.9nm	0.5nm
1kV	1.0nm	0.8nm
500V	1.2nm	0.8nm

加速電壓范圍：200 V ~ 30 kV
著陸電壓范圍：200 eV ~ 30 keV
探針電流范圍：1 pA ~ 50 nA，連續(xù)可調（可選配400 nA）
水平視場寬度：10 mm WD時為3 mm（相當于放大倍率29倍）
X-Ray工作距離：10 mm，EDS檢出角35°
樣品室：從左至右為340mm寬的大存儲空間，樣品室可拓展接口數量12個，含能譜儀接口3個（其中2個處于180°對角位置）
樣品臺：五軸優(yōu)中心全自動馬達驅動X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （連續(xù)旋轉）
多用途SEM樣品安裝載物臺，可同時放置 18 個標準樣品座（φ12mm）
探測器系統(tǒng)：
樣品室二次電子探測器ETD
鏡筒內背散射電子探測器T1
鏡筒內二次電子探測器T2
鏡筒內二次電子探測器T3（選配）
樣品室內IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+™
樣品室低真空二次電子探測器（選配）
可伸縮透鏡下背散射探測器（選配）
控制系統(tǒng)：
操作系統(tǒng)：Windows 10
圖像顯示：24寸LCD顯示器，顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示四幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能

☆ 全面解析

全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；

☆ 的靈活性

非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用最重要的數據；

☆ SmartAlign技術

使用SmartAlign技術(智能調整光學系統(tǒng))，實現光學系統(tǒng)自動調整，減少維護時間；

☆ *的自動化

*的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術；

☆ 實時定量EDS

元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡便；

☆ 標準工作流操作
內置了User Guidance（用戶工作流）功能，無論是初學者還是經驗豐富，都能夠快速上手，并穩(wěn)定獲取的實驗數據。

關鍵詞：顯微鏡能譜儀顯示器催化劑