產(chǎn)品介紹：

　　CST520陣列電極電位電流掃描儀采用10×10陣列(絲束)電極(wire beam electrode，WBE)來模擬整塊金屬試樣表面，通過自動掃描WBE表面的電位/電流分布，可得到涂層或生物膜下的電極電位及偶接電流分布，評估金屬材料的局部腐蝕行為。

　　CST520內(nèi)置高阻電壓跟隨器和零阻電流計(ZRA)，可以精確測量任一單電極相對于參比電極的開路電位以及偶接電流，無需擔(dān)心外部極化可能會破壞微區(qū)腐蝕環(huán)境，特別適合于金屬在非擾動狀態(tài)下的自發(fā)腐蝕行為研究。CST520內(nèi)部集成雙路高精度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器,其采樣分辨率為24bit，采樣速率1000Hz, 前端運放采用斬波穩(wěn)零放大器，內(nèi)置二階低通濾波器，可以有效消除工頻干擾。

　　CST520具有自動量程功能，能根據(jù)電流及電位值高低，自動確定信號放大倍率。系統(tǒng)固件采用watchdog來提高軟件運行的可靠性。CST520 可由USB線與PC機通訊，并通過WBEScan軟件實時顯示W(wǎng)BE電極的行、列位置以及相應(yīng)的電流與電位值。

　　CST520的10×10陣列絲束電極掃描電路(Auto-switch)由單片機控制，并通過100組低功耗繼電器實現(xiàn)100路電極的自動循環(huán)電位/電流掃描式測量，絲束電極與儀器連接采用可靠性高的鍍金插座。

　　應(yīng)用領(lǐng)域

　　用于金屬局部腐蝕誘導(dǎo)、發(fā)展與抑制過程中的表面電位與電流波動測量，可用于研究縫隙腐蝕、垢下腐蝕，以及生物膜、涂層、防銹油膜下的金屬非均勻腐蝕行為。

　　主要技術(shù)參數(shù)