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熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

材質(zhì)	樹脂	卷	76X76MM

熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜
美國(guó)Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。

詳細(xì)介紹

二、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

柔韌性強(qiáng)、方便、耐用；

X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑，不污染待測(cè)樣品；

（幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。