電子電器專用高低溫交變濕熱試驗箱又名可程式恒溫恒濕試驗箱。該設(shè)備主要用于測試電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件在各種溫濕度條件下使用時的可靠性能。KW-TH系列高低溫交變濕熱試驗箱可模擬的溫濕度條件包括高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫交變、高低溫恒溫、恒定濕熱、交變濕熱、高溫高濕、低溫高濕、高溫低濕等試驗條件。可滿足各種國標(biāo)高低溫交變濕熱測試的要求及功能?？蓽y試電子電器產(chǎn)品的耐熱、耐寒、耐干、耐濕、耐溫度變化等性能。該設(shè)備是電子，電器廠家品質(zhì)部及研發(fā)新產(chǎn)品比不可少的可靠性測試設(shè)備。
電子電器專用高低溫交變濕熱試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法：
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗方法A_冷
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法
中國國家環(huán)境試驗設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
