舒適且便于使用

讓傳統(tǒng)技術(shù)易于操作：簡(jiǎn)單的照明器

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡 工業(yè)顯微鏡 測(cè)量顯微鏡照明器的設(shè)計(jì)較大程度減少了顯微鏡操作過(guò)程中所必須的復(fù)雜操作。
照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在檢查時(shí)快速切換較常用的觀察方法，比如從

明

場(chǎng)觀察到暗場(chǎng)觀察，到偏光觀察，以隨時(shí)改變不同類型的分析。此外，可以旋轉(zhuǎn)檢偏鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單偏光觀察的調(diào)節(jié)。

操作者能夠在經(jīng)常使用的觀察方法之間快速切換（AlSi的拋光態(tài)樣品）

直觀的顯微鏡控制：視場(chǎng)光闌和孔徑光闌的簡(jiǎn)單設(shè)置

使用正確的孔徑光闌和視場(chǎng)光闌設(shè)置能夠獲得良好的圖像對(duì)比度，還可以充分利用物鏡的。指示標(biāo)志可引導(dǎo)用戶根據(jù)

觀察方法和所用物鏡進(jìn)行正確的設(shè)置。

快速找到焦點(diǎn)：對(duì)焦刻度標(biāo)尺

奧林巴斯M金相顯微鏡 工業(yè)顯微鏡 測(cè)量顯微鏡機(jī)架上的對(duì)焦刻度標(biāo)尺可以讓操作者快速鎖定焦點(diǎn)。操作者不用通過(guò)查

看樣品就可以大致地對(duì)準(zhǔn)焦點(diǎn)，從而在檢查具有不同高度的樣品時(shí)節(jié)省了時(shí)間。

一致的照明：智能光強(qiáng)管理

在初始設(shè)定時(shí)，可以調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度，使其與編碼照明器和/或編碼物鏡轉(zhuǎn)換器的特定硬件配置匹配。

方便而人性化的操作

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡 工業(yè)顯微鏡 測(cè)量顯微鏡人性化設(shè)計(jì)對(duì)所有用戶都至關(guān)重要。無(wú)論是單機(jī)顯微鏡用戶，還是集成了奧林

巴斯Stream圖像分析軟件的顯微鏡系統(tǒng)用戶，都能得益于可以清晰顯示顯微鏡編碼型硬件位置的人性化操作設(shè)計(jì)的手動(dòng)控制器。

簡(jiǎn)單的手動(dòng)開關(guān)讓用戶能夠?qū)Ｗ⒂跇悠泛蜋z查工作本身。

用于旋轉(zhuǎn)電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器的手動(dòng)開關(guān)光按鈕手動(dòng)控制器

專為圖像分析而設(shè)計(jì)的系統(tǒng)

可恢復(fù)顯微鏡設(shè)置：編碼硬件

BX3M采用了新的編碼功能，將顯微鏡的硬件設(shè)置與奧林巴斯Stream圖像分析軟件整合在一起。觀察方法、照明強(qiáng)度和物鏡位置

全都記錄在軟件和/或手動(dòng)控制器里。編碼功能可實(shí)現(xiàn)顯微鏡設(shè)置與每幅圖像一起自動(dòng)保存，從而可輕松完成此后的還原設(shè)置，

以及為報(bào)表提供文檔記錄。既節(jié)省了操作者的時(shí)間，又較大程度地減小了使用不正確設(shè)置的概率。當(dāng)前的觀察設(shè)置總是清晰地

顯示在手動(dòng)控制器和軟件上。

較為*的成像

MIX組合式觀察：讓以往看不見(jiàn)的圖像顯示出來(lái)

BX3M的MIX組合式觀察技術(shù)組合了明場(chǎng)和暗場(chǎng)照明方法。MIX組合式照明滑塊中的LED光源，以定向暗場(chǎng)光線照射樣品，這種方

式類似于傳統(tǒng)暗場(chǎng)照明，但又具有更大的靈活性。這種明場(chǎng)與定向暗場(chǎng)的組合稱為MIX組合式照明，對(duì)突出顯示缺陷和區(qū)分隆起

與凹陷表面很有用處。

常規(guī)傳統(tǒng)的

明場(chǎng)將光線直接照射在樣品上，暗場(chǎng)則從目標(biāo)的周圍側(cè)面照射樣品，突出顯示出了劃痕和缺陷。

較為*的

MIX組合式觀察是通過(guò)一個(gè)環(huán)形LED光源來(lái)形成明場(chǎng)與定向暗場(chǎng)的組合?？梢哉{(diào)節(jié)LED光源，選擇從哪個(gè)方向進(jìn)行照明。

*系統(tǒng)化

模塊化的設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)多種配置，以滿足用戶的各種要求。

用于材料學(xué)的配置

BX53M反射和反射/透射觀察

BX53M IR觀察

BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，

并且都配備有ESD防靜電功能。

BX53M偏光觀察

BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等

各種研究，

都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。

用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡(jiǎn)單而快捷?？梢郧逦貙?duì)焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視

場(chǎng)光闌使

其能夠始終獲取

銳利而清晰的錐光圖像。

無(wú)應(yīng)力光學(xué)元件

UPLFLN-P無(wú)應(yīng)力物鏡得益于奧林巴斯的設(shè)計(jì)和制造技術(shù)，將內(nèi)部應(yīng)力降到了較低。這就意味著更高的EF值，從而可以得

到較好的圖像反差。

種類豐富的補(bǔ)色器和波長(zhǎng)板

提供了六種不同的補(bǔ)色器，用于測(cè)量巖石和礦物薄片的雙折射。測(cè)量光程差水平范圍從0到20λ。針對(duì)更方便的測(cè)量和高圖像

反差， 可以使用B e r e k 和Senarmont補(bǔ)色器，它們能在整個(gè)視場(chǎng)內(nèi)改變光程差級(jí)別。

如需了解更多詳細(xì)信息，請(qǐng)聯(lián)系我們！