技術清潔度檢測的整體解決方案
讓您的技術清潔度檢測簡便明了
組件與零部件的清潔對于生產工藝十分重要。對于開發(fā)、制造、批量生產以及成品質量控制的所有流程,滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆
粒的計數、分析和分類的高標準要求是非常重要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響,國標指令對于確定重要機械部件顆
粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質量來描述殘留物特征。當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布
以及顆粒物特征等污染屬性提出了高詳細的信息要求。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統(tǒng)為滿足現(xiàn)代工業(yè)及高標準的清潔度要求而特別設計。
清潔度過程控制的全面解決方案
可靠:硬件與軟件無縫集成的耐用型高效率系統(tǒng)能夠提供可靠的數據。
直觀:使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數據可靠性——對操作員的水平無特殊要求。
高速:創(chuàng)新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統(tǒng)調節(jié)檢偏鏡式檢測系統(tǒng)的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選過程,并且配有便于
修改檢測數據的強大易用型工具。
兼容:一鍵報告功能可滿足高標準規(guī)定的要求及原則。
可靠的全套系統(tǒng)解決方案:
實現(xiàn)高度可再現(xiàn)性的自動化和精度
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)是專為滿足自動化清潔度檢測需求的整體解決方案。所有部件均已針對高效率系統(tǒng)數據的**性、可再現(xiàn)性、可重復性以
及無縫集成進行優(yōu)化。該系統(tǒng)擁有好的光學性能、可再現(xiàn)觀察條件以及可重復性。同時,該清潔度檢測系統(tǒng)還可通過自動化執(zhí)行關鍵任務功能
來大大減少人為錯誤。
可再現(xiàn)成像條件
通過受保護的相機對齊后鎖定避免意外錯位,可再現(xiàn)成像條件
光學品質
通過奧林巴斯UIS2物鏡和高分辨率相機等光學組件獲得用于分析的較高圖像質量。
可再現(xiàn)性和可重復性
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)使用方便,即使不熟練的檢測人員也能夠獲得可靠的數據。預配置的硬件和專用系統(tǒng)解決方案可幫助您的設置能夠正確
獲
得**、可重復的檢測結果。
耐用
可再現(xiàn)的定位以及改良的對焦驅動功能實現(xiàn)可再現(xiàn)的定位。載物臺插件可使濾膜固定,并且配有用于集成校準工具的額外插件。
該圖表通過利用過程性能指數(Ppk)驗證測量穩(wěn)定性和可重復性展示了奧林巴斯CIX100的精度高。在5X和10X倍率下測量同一樣品數次(10次)
并提取按常規(guī)尺寸分類的顆粒物計數。該圖表展示了E等級(50-100µm)的Cpk和Ppk評估。
光學品質
奧林巴斯高品質UIS2物鏡可獲得高測量和分析精度的好光學性能。針對清潔度檢測優(yōu)化的專用光源可保持均一一致的色溫。
實現(xiàn)高效率的直觀引導
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)通過完整檢測流程實現(xiàn)性能和生產率的提升,該產品專為方便各種經驗水平的檢測員進行清潔度檢測而設計。軟件可提
供完整清潔度檢測流程的分步指導。直觀的工作流可提高生產效率及對檢測結果的信心,同時縮短檢測周期,減少每次檢測的成本以及操作
失誤。并獲得能夠滿足高質量標準的檢測系統(tǒng)。
全屏操作
全屏功能可讓操作員利用大的屏幕空間查看樣品,而不會對計算機任務欄造成干擾。
管理工具
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)可讓管理者實現(xiàn)對系統(tǒng)各組件用戶訪問的控制。根據操作員的經驗水平,系統(tǒng)管理者可定義不同的職責并為操作員選
擇相應的功能。經驗豐富的用戶可訪問整個系統(tǒng)設置,而經驗不足的用戶則限制在基本工作流操作上。該功能有助于使經驗不足的用戶生
成可靠的檢測結果。
復核、修改和重新計算
簡便的數據導出
點擊鼠標即可簡便導出報告。操作員可根據要求和需要選擇將報告導出為MS Word或PDF格式。
顯微鏡 | OLYMPUS CIX100 | 電動對焦 | 3軸操縱桿控制的同軸自動細調焦 對焦行程 25毫米 微調行程 100微米/周 載物臺托架高度:40毫米 對焦速度 200微米/秒 可啟用軟件自動對焦 可定制多點聚焦圖 |
照明器 | 內置LED照明 可同時實現(xiàn)反光和非反光顆粒物探測的照明機制 光強度由工廠預設 | ||
成像設備 | 彩色CMOS USB 3.0相機 | ||
樣品高度 | ?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過濾膜(直徑47毫米) | ||
物鏡轉換器 | 電動型 | 電動物鏡轉換器 | 6孔電動物鏡轉換器,已經安裝3個UIS2物鏡 PLAPON 1.25X,用于預覽 MPLFLN 5X,用于觀察大于10微米的顆粒物 MPLFLN 10X,用于觀察大于2.5微米的顆粒物 選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測量。 |
軟件控制 | 圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關系均可隨時掌握。 | ||
載物臺 | 電動載物臺X,Y | 電動載物臺X,Y | 步進電機控制運動 范圍:130 x 79毫米 速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距) 可重復性 < 1微米 分辨率 0.01微米 使用3軸操縱桿控制 |
軟件控制 | 掃描速度與所使用的倍率有關,10X時掃描速度少于10分鐘 載物臺對齊由工廠在裝配時完成 | ||
樣品托架 | 樣品托架 | 樣品托架為在安裝過程中避免發(fā)生意外碰撞轉動而特別設計 過濾膜通過樣品托架進行機械式展平 固定上蓋時無需使用工具 樣品托架始終使用載物臺上的插槽1 | |
顆粒物標準片(PSD) | 用于驗證系統(tǒng)測量的參考樣品 在檢驗系統(tǒng)控制CIX相應功能的內置功能中使用的樣品 顆粒物標準片(PSD)始終使用載物臺上的插槽2 | ||
載物臺插件 | 2個載物臺插槽 | 載物臺插槽專門用于樣品托架和顆粒物標準片(PSD)的正確定位 | |
控制器 | 工作站 | 高性能預安裝式工作站 | HP Z440, Windows 10-64位(英文版) 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數據存儲空間 2GB視頻適配器 安裝Microsoft Office 2016 (英文版) 具備聯(lián)網功能,英文全鍵盤,1000 dpi光學鼠標 |
擴展插件 | 電動控制器, RS232 串口和USB 3.0 | ||
語言選擇 | 操作系統(tǒng)和Microsoft Office默認語言可由用戶更改 | ||
觸摸屏 | 23寸觸摸屏 | 為CIX軟件優(yōu)化的1920x1080分辨率 | |
功耗 | 額定值 | AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個插頭) | |
功耗 | 控制器:700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦 合計:769.2瓦 | ||
圖紙 | 尺寸 (長 x 寬 x 高) | 約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米 | |
重量 | 44公斤 |
系統(tǒng)環(huán)境要求
常規(guī)使用 | 溫度 | 10 - 35 °C |
濕度 | 30 - 80 % | |
用于安全 | 環(huán)境 | 室內使用 |
溫度 | 5 - 35 °C | |
濕度 | 80%(可達31 °C)(無冷凝) 溫度高于31 °C時可工作的濕度值呈線性下降。 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) | |
海拔高度 | 2000米 | |
水平度 | ± 2° | |
電源及電壓穩(wěn)定性 | ±10 % | |
污染等級 | 2 | |
總電壓 | II |
軟件
軟件 | CIX-ASW-V1.1 |
技術清潔度檢測的專用工作流軟件 | |
語言 | GUI :英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 |
在線幫助:英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 | |
許可證管理 | 軟件許可證通過許可證卡激活(安裝時已經激活) |
用戶管理 | 系統(tǒng)可連接到網絡進行域管理 |
實時圖像 | 以彩色模式顯示 |
窗口適應方法 | |
實時探測 | |
硬件控制 | XY電動載物臺 |
電動物鏡轉換器:僅可使用軟件選擇 | |
電動對焦 | |
光線控制:光強度由軟件進行自動控制 | |
檢查系統(tǒng) | 系統(tǒng)驗證 |
技術清潔度標準 | 可支持的標準:ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E |
全面符合VDA19:2016推薦要求 | |
顆粒物識別:顆粒物可通過顆粒物類型進行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他) | |
定制標準:用戶定義的標準可輕松確定 | |
檢測配置:系統(tǒng)允許加載、定義、復制、重命名、刪除和保存檢驗標準 | |
顆粒物平鋪視圖 | 以平鋪視圖顯示檢測到的顆粒物,提升導航效果 |
存儲完整薄膜 | 完整濾膜圖片可被存儲,并可使用不同條件進行重新處理 |
顆粒物編輯 | 在修改過程中可對顆粒物進行編輯功能包括: |
動態(tài)報告 | 使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的分析報告 |
選配解決方案CIX-S-HM
高度測量 | 選定顆粒物的自動或手動高度測量 | - 選配軟件解決方案可對所選顆粒物從上到下進行自動對焦。顆粒物高度由此通過Z坐標大小差獲得。 |
環(huán)境法規(guī)
歐洲 | 低壓指令 2014/35/EU |
EMC指令 2014/30/EU | |
RoHS指令 2011/65/EU | |
REACH法規(guī),編號1907/2006 | |
包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC | |
WEEE指令 2012/19/EU | |
機械指令2006/42/EC | |
美國 | UL 61010-1:2010第3版 |
FCC 47 CFR第15部分 B子部分 | |
加拿大 | CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12) |
澳大利亞 | 1992無線電通信法案,1997電信法案 |
節(jié)能條例 AS/NZS 4665-2005 | |
日本 | 電氣設備及材料安全法 (PSE) |
韓國 | 電氣設備安全控制法案 |
節(jié)能標簽及標準條例 | |
EMC和無線電通信條例(公告2913-5) | |
中國 | 中國RoHS |
中國PL法 | |
手冊條例 |