在日常涂層測厚儀測厚過程中，有很多外在因素影響實際測量結(jié)果，導(dǎo)致最終測量結(jié)果存在誤差，本文從以下幾點可能對涂層測厚儀測量結(jié)果產(chǎn)生影響的因素進行分析：

1）磁性金屬基體：磁性基體磁性變化會在一定程度上影響測量 ，因此在測量時 ，當(dāng)使用測性測厚法進行測量時 ，應(yīng)該注意使得標準片的金屬磁性和表面粗糙度需要和試件類似 ；同樣的使用渦流測厚法來進行測量時 ，需要注意保證標準片的金屬電性質(zhì)與試件類似 ；

2）基體金屬的厚度：需要特別說明的是每種儀器在測量的時候都有著一定的臨界厚度 ，一旦超過這個臨界值則測量結(jié)果就不再受基體金屬厚度的影響 ；

3）邊緣效應(yīng)：測量時 ，由于試件的表面粗糙度、表面形狀等均會對最終測量結(jié)果產(chǎn)生影響 ，尤其是在靠近試件的邊緣部分由于測量儀器十分敏感 ，所以試件邊緣部分測得數(shù)據(jù)一般不可靠 ；

4）曲率：同樣的 ，試件的固有屬性尤其是曲率的大會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響 ，而且隨著曲率半徑的降低 ，這種影響越大 ，所以彎曲度較大的試件測量結(jié)果亦不可靠。此外 ，對于容易變形的試件 ，測量結(jié)果也不可靠 ；

5）磁場的影響：如果測量期間 ，尤其是利用磁感應(yīng)原理進行的涂層測量會由周圍的電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強的磁場環(huán)境嚴重干擾測量結(jié)果 ，所以涂層測厚儀工作過程中需要避免周圍的強磁場環(huán)境 ；

6）表面附著物質(zhì)：由于涂層測厚儀對于某些覆蓋在試件表面的附著物十分敏感 ，附著物會在很大程度上影響測量穩(wěn)定性和測量精度。所以使用時也需要注意保證試件表面的清潔等 ；

7）測頭壓力：測頭在試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù) ，在測量時應(yīng)保證側(cè)頭平穩(wěn)放置于試件上 ，無外在其他力作用并且保持穩(wěn)定狀態(tài) ；

8）測頭取向：涂層測厚儀的測頭的放置位置對測量有影響，一般的 ，在測量中應(yīng)使測頭與試樣表面保持垂直。

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