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東莞市東旺化玻儀器有限公司

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賽默飛 Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

更新時(shí)間:2022-03-08 10:36:30瀏覽次數(shù):210次

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品牌:ThermoFisher CAS號(hào): 外觀: 主要成分: 保質(zhì)期:

產(chǎn)品介紹

 Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™產(chǎn)品系列憑借其的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動(dòng)化和易用性特征,重新定義了樣品制備和三維表征的標(biāo)試方式。屬于業(yè)界的Helios DualBeam系列的第四代產(chǎn)品,專為滿足科學(xué)家和工程師的各類分析及研究需求而設(shè)計(jì),它將創(chuàng)新的Thermo Scientific Elstar ™ 電子鏡筒和的Thermo Scientifc Tomahawk ™ 離子鏡筒有機(jī)結(jié)合,前者可實(shí)現(xiàn)*分辨率成像和材料襯度,而后者可實(shí)現(xiàn)速、、確的高質(zhì)量樣品制備。系統(tǒng)不僅配置的電子和離子光學(xué)系統(tǒng),還采用了一系列的技術(shù),可實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單一致的高分辨率S/TEM和原子探針斷層掃描(APT)樣品制備,以及質(zhì)量的內(nèi)部和三維表征,即使在挑戰(zhàn)性的樣品上也表現(xiàn)出色。Helios G4 CX DualBeam系統(tǒng)的創(chuàng)新結(jié)合最易于使用、面的 Thermo Scientific AutoTEM ™4軟件(可選)和專業(yè)的應(yīng)用知識(shí),可快速輕松地定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。為了獲得高質(zhì)量的結(jié)果,需要使用低能離子進(jìn)行精拋,以限度地減少樣品的表面損傷。Tomahawk聚焦離子束(FIB)鏡筒不僅可以在高電壓下進(jìn)行高分辨率成像和刻蝕,而且具有良好的低電壓性能,可以制備高質(zhì)量的TEM薄片。


產(chǎn)品特點(diǎn)

? Tomahawk離子鏡筒實(shí)現(xiàn)速、的高質(zhì)量、定位TEM和原子探針樣品制備。

? Elstar電子鏡筒以最短時(shí)間獲取納米尺度信息。

? 多達(dá)6個(gè)集成化鏡筒內(nèi)及透鏡下探測(cè)器,采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無(wú)荷電圖像,提供最完整的樣品信息。

? 可選AS&V4軟件,精確定位感興趣區(qū)域,獲取質(zhì)量、多模態(tài)內(nèi)部和三維信息。

? 小于10nm復(fù)雜結(jié)構(gòu)的快速、準(zhǔn)確、精確刻蝕和沉積。

? 高度靈活的110 mm樣品臺(tái)和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相機(jī)實(shí)現(xiàn)精確樣品導(dǎo)航。

? 集成化樣品清潔管理和專用的DCFI和Thermo Scientific SmartScan ™ 等模式實(shí)現(xiàn)無(wú)偽影成像。


參數(shù)

電子束

? 在工作距離下:

  ? 30kV下STEM 0.6nm

  ? 15kV下 0.6nm

  ? 1kV下 1.0nm

  ? 1kV下 電子束減速模式 0.9nm

? 在束重合點(diǎn):

  ? 15kV下 0.6nm

  ? 1kV下 2.5nm

? 電子束流范圍:0.8pA–100nA

? 加速電壓范圍:200V-30kV

? 著陸能量范圍: 20eV-30keV

? 水平視場(chǎng)寬度:4mm工作距離下為2.3mm

離子光學(xué)

? 的大束流Tomahawk離子鏡筒

? 離子束流范圍:0.1pA–65nA

? 加速電壓范圍:500 V-30kV

? 兩級(jí)差分抽吸

? 飛行時(shí)間(TOF)校準(zhǔn)

? 15 孔光闌

? 水平視場(chǎng)寬度:在束重合點(diǎn)出為0.9mm

? 離子源壽命至少1,000小時(shí)

? 離子束分辨率(在重合點(diǎn)處):

 ? 30kV下 4.0nm(采用統(tǒng)計(jì)方法)

 ? 30kV下 2.5nm(采用選邊法)

探測(cè)器

? Elstar 透鏡內(nèi)SE/BSE 探測(cè)系統(tǒng)(TLD-SE、TLD-BSE)

? Elstar 鏡筒內(nèi)SE/BSE 探測(cè)系統(tǒng)(ICD)

? Elstar 鏡筒內(nèi)BSE 探測(cè)系統(tǒng)(MD)

? ETD–Everhart-Thornley 二次電子探測(cè)器

? 樣品室紅外CCD相機(jī),用于樣品臺(tái)高度觀察

? ICE探測(cè)器-高性能離子轉(zhuǎn)換和電子探測(cè)器,用于采集二次電子和二次離子

? Nav-Cam ™ : 樣品室內(nèi)彩色光學(xué)相機(jī),用于樣品導(dǎo)航

? DBS–可伸縮式低電壓、高襯度、固態(tài)背散射電子探測(cè)器

? STEM 3+ – 可伸縮分割式探測(cè)器(BF、DF、HAADF)

? 集成電子束流測(cè)量

樣品臺(tái)和樣品

? 靈活五軸電動(dòng)樣品臺(tái):

 -XY范圍:110mm

 - Z范圍:65mm

? 旋轉(zhuǎn):360°(連續(xù))

? 傾斜范圍:-15°到 +90°

? XY重復(fù)精度:3μm

? 樣品高度:與優(yōu)中心點(diǎn)間隔85mm

? 樣品質(zhì)量(0°傾斜):2kg(包括樣品托)

? 樣品尺寸:可沿X、Y軸*旋轉(zhuǎn)時(shí)直徑為110mm(若樣品超出此限值,則樣品臺(tái)行程和旋轉(zhuǎn)會(huì)受限)

? 同心旋轉(zhuǎn)和傾斜真空系統(tǒng)

? *無(wú)油的真空系統(tǒng)

? 樣品倉(cāng)真空(高真空):< 2.6 x 10 -6 mbar(24小時(shí)抽氣后),抽氣時(shí)間:< 5 分鐘樣品倉(cāng)

? 電子束和離子束重合點(diǎn)在分析工作距離處(SEM 4mm)

? 端口:21個(gè)

? 內(nèi)寬:379mm

? 集成等離子清洗


訂貨信息

產(chǎn)品料號(hào)

產(chǎn)品貨號(hào)

產(chǎn)品名稱

產(chǎn)品規(guī)格

TFE000049

TFE000049

Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡

Helios G4 CX DualBeam

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