-40度低溫試驗箱的適用范圍和測試標(biāo)準(zhǔn)如下：

適用范圍：

1. 電工電子產(chǎn)品：適用于非散熱的電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）的低溫試驗。

2. 電子零部件行業(yè)：在電子零部件行業(yè)中，用于測試集成電路、電阻、電容和半導(dǎo)體器件等在各種環(huán)境條件下的性能。

3. 產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制：用于研發(fā)階段的型式試驗、零部件篩選試驗，以及質(zhì)量控制過程中的產(chǎn)品檢測。

測試標(biāo)準(zhǔn)：

1. 國家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗A: 低溫》。

2. 國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1:2007，這是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗中關(guān)于低溫試驗的國際標(biāo)準(zhǔn)。

3. 溫度范圍：根據(jù)GB2423標(biāo)準(zhǔn)，不同地區(qū)和應(yīng)用場合下，低溫測試的范圍可設(shè)定為：-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。

4. 試驗條件：溫度：-55℃、-40℃、-25℃、-10℃ 或制造商與用戶商定的其他溫度點。試驗時間：制造商與用戶商定，但不應(yīng)少于產(chǎn)品在該溫度下達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)所需的時間。

5. 試驗步驟：包括預(yù)處理、初始檢測、低溫試驗、恢復(fù)和最終檢測等步驟。

6. 試驗結(jié)果評定：根據(jù)產(chǎn)品的性能指標(biāo)和試驗要求，對低溫試驗結(jié)果進行評定。如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能變化在允許范圍內(nèi)，則認為產(chǎn)品通過了低溫試驗；如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下出現(xiàn)性能故障或損壞，則認為產(chǎn)品未通過低溫試驗。

低溫試驗箱在測試時需要注意以下安全事項：

1. 試樣放置：試樣與試樣、試樣與冷凍箱內(nèi)膽之間應(yīng)留有一定間隙，以保證冷氣流動，降溫均勻。

2. 易失水分物品：對于試驗溫度較高物體和易失水分的物體，應(yīng)使用密封較好的食品袋或保鮮紙包好放入，以防水分跑出，在工作室內(nèi)結(jié)霜，影響制冷。

3. 易燃易爆物品：嚴(yán)禁在冷凍箱內(nèi)存放揮發(fā)性、燃燒性的氣體、液體，如汽油、酒精等物品。

4. 試樣數(shù)量：一次放入的試樣不能過多，否則會使壓縮機長時間不停機，而且箱內(nèi)溫度下降緩慢，反而達不到要求。

5. 工作完畢后處理：工作完畢后，切斷電源，取出已冷凍樣品，打開冷凍箱門讓其自然升溫，化霜層融化，將水放出用軟布吸干擦凈。

6. 設(shè)備使用范圍：本設(shè)備僅適合高溫+150℃，低溫-40℃范圍內(nèi)的產(chǎn)品試驗。

7. 禁止危險物質(zhì)試驗：禁止易爆、易燃及高腐蝕物質(zhì)的試驗。

8. 箱門開啟：本機工作于0℃以下時，應(yīng)避免打開箱門，否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)冰，降低本機使用效率。

9. 非必要不開門：試驗中，除非絕對必要切勿打開箱蓋，否則可能會引起人身傷害、系統(tǒng)誤動作，可能會導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解，觸發(fā)超溫保護。

10. 電源及接地：試驗箱在安裝時箱體外殼必須接地，如果試驗箱沒有接地，一旦漏電則會非常危險。

11. 電源線徑：電源進線線徑必須等于大于要求線徑，否則設(shè)備在運行過程中負載嚴(yán)重，很容易引起負載燒壞。

12. 超溫保護器檢查：需要定期檢查電路斷路器和超溫保護器，以提供本機測試品以及操作者的安全保護。

13. 照明燈使用：照明燈除必要時打開外，其余時間應(yīng)關(guān)閉。

14. 工作室干燥：在做低溫前，應(yīng)將工作室擦干。

15. 試樣均勻放置：所有試樣應(yīng)均勻放置，試驗的放置應(yīng)保證工作室有效空間內(nèi)。

16. 通訊接口連接：在插、拔試驗箱與計算機的通訊接口連接線時，必須先關(guān)閉計算機電源，決不允許帶電插拔。

17. 電源關(guān)閉：試驗工作結(jié)束，不用試驗箱時，務(wù)必關(guān)閉總電源開關(guān)。

-40度低溫試驗箱在測試時需要注意的安全事項，遵循這些安全指南可以確保測試過程的安全和設(shè)備的正常運行。