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半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀_粉末電阻率測(cè)試儀_電阻率儀

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半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀_粉末電阻率測(cè)試儀_電阻率儀型號(hào)：DP-FZ-2006本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的

詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀_粉末電阻率測(cè)試儀_電阻率儀型號(hào)：DP-FZ-2006

本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ，電阻率測(cè)試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和

穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。

適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量, 也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料，特別適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測(cè)試架兩部分，電氣測(cè)試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測(cè)試架為壓力傳感器，加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測(cè)量精度高，穩(wěn)定性好，重復(fù)性好，使用方便等特點(diǎn)，并有自校功能。

本儀器采用國(guó)際通用的電流-電壓降法即四端子測(cè)量法，可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來(lái)的誤差，克服了以往傳統(tǒng)的二端測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病，真實(shí)、準(zhǔn)確地測(cè)量出粉末樣品的電阻率，因此重復(fù)性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。

技術(shù)參數(shù)；

1. 測(cè)量范圍：

o 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω

o 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm

測(cè)量誤差 ±（% 讀數(shù) + 2 字）

2. 測(cè)量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
測(cè)量精度: ±（% 讀數(shù) + 2 字）

3. 測(cè)量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào)，
電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)）納米粉末

5. 試樣容器：內(nèi)腔Φ ±

6. 試樣高度：16mm ±
測(cè)量誤差：±

7. 取樣壓力：4 Mpa ± Mpa ( 40 kg/cm2 ± kg/cm2)
壓力量程：0 - 100 kg 可調(diào)