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Leeb436便攜式表面粗糙度測量儀

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產(chǎn)品型號Leeb436

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更新時間：2023-01-26 09:47:52瀏覽次數(shù)：298次

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珠海天創(chuàng)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

Leeb436便攜式表面粗糙度測量儀，多達28個測量參數(shù)，采用當前* 新的處理器、2.7寸OLED顯示屏，顯著提升了用戶精準粗糙度測試的體驗，硬件設(shè)計精巧、數(shù)據(jù)處理速率高、保護措施完善，集諸多優(yōu)勢于一身.

詳細介紹

詳情介紹：

Leeb436便攜式表面粗糙度測量儀，多達28個測量參數(shù)，采用當前* 新的處理器、2.7寸OLED顯示屏，顯著提升了用戶精準粗糙度測試的體驗，硬件設(shè)計精巧、數(shù)據(jù)處理速率高、保護措施完善，集諸多優(yōu)勢于一身.

高性價比表面粗糙度測量儀，采用320μm大量程**度位移式差動電感傳感器，分辨率可達0.01μm，可實現(xiàn)無線遙控啟動、測量；支持現(xiàn)場藍牙打印機無線通訊，通過PC海量存儲數(shù)據(jù)。

為了更好的大道測量效果，您還可以選配曲面?zhèn)鞲衅?、深槽傳感器、小孔傳感器、極小孔傳感器、齒面?zhèn)鞲衅?、小立柱、微調(diào)平臺、加長桿、側(cè)向轉(zhuǎn)接桿等附件，滿足您不同應(yīng)用的檢測需求。

粗糙度儀銷售，兼容ISO、DIN、ANSI、JIS四種標準，可送檢出證書，如果您需要第三方計量檢測機構(gòu)出具的證書，請?zhí)崆罢f明，本公司免費送檢。

Leeb436便攜式表面粗糙度測量儀技術(shù)參數(shù)

項目		Leeb436
測量范圍	Z軸（垂直）	320μm(Ra=30μm)
	X軸（水平）	17.5mm
分辨率	Z軸（垂直）	0．01μm/±20μm
		0．02μm/±40μm
		0．04μm/±80μm
		0．08μm/±160μm
測量項目	參數(shù)	Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS)、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr、Rku、RΔa、RΔq、Rδc、Ry； Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2、V0；
	標準	ISO,ANSI,DIN,JIS
	圖形	粗糙度輪廓，支承率曲線，直接輪廓
濾波器		RC,PC-RC,Gauss,D-P
取樣長度(lr)		0.25,0.8,2.5mm
評定長度（ln）		Ln= lr×n n=1~5
傳感器	測量原理	位移式差動電感
	觸針	天然金剛石，90錐角，5μm針尖半徑
	測力	<4mN
	導頭	紅寶石，滑行方向半徑40mm
	滑行速度	lr=0.25, Vt=0.15mm/s
		lr=0.8, Vt=0. 5mm/s
		lr=2. 5, Vt=1mm/s
		返回 Vt=1mm/s
示值誤差		不大于±10%
示值變動性		不大于6%
電源		內(nèi)置鋰聚合物充電電池，用8.4V,800mA充電器充電
外形尺寸		112×50×47mm
重量		約360g
標準配置		主機、標準傳感器、多刻線樣板、樣板支架、活動支架，遙控器、電源適配器、儀器箱