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捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有著精煉的外型,全新的視覺(jué)感受。為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI,使操作更加直觀方便。JEOL長(zhǎng)年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn),與舊機(jī)型相比,電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高?,F(xiàn)在的電子顯微鏡需要支...

詳細(xì)介紹

捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有著精煉的外型,全新的視覺(jué)感受。為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI,使操作更加直觀方便。JEOL長(zhǎng)年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn),與舊機(jī)型相比,電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高?,F(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場(chǎng)/暗場(chǎng)的TEM成像到使用各種檢測(cè)器的STEM技術(shù)。 該設(shè)備采用新型四級(jí)聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”,通過(guò)分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。
EM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析,該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。
捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡采用能以皮米級(jí)步長(zhǎng)移動(dòng)樣品臺(tái)的Pico stage drive(不用壓電驅(qū)動(dòng)),能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級(jí)圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。插入和拔出樣品桿,對(duì)電鏡初學(xué)者來(lái)說(shuō)一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在的位置上,只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。
捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)ㄟx配),該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間,并且還降低了來(lái)自光源的色差,實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。
捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測(cè)器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對(duì)樣品的損傷更小。
捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡是個(gè)標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5,可以在裝置不運(yùn)行時(shí),以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能,能在的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。



TEM點(diǎn)分辨率 0.19 nm 0.23 nm
STEM-HAADF 像 0.14 nm @冷場(chǎng)槍 0.16 nm @冷場(chǎng)槍
0.16 nm @熱場(chǎng)槍 0.19 nm @熱場(chǎng)槍
加速電壓 200 , 80 kV 200 , 80 kV
主要選配件 能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機(jī)、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)

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.cn/場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-F200以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強(qiáng),外觀設(shè)計(jì)精煉,能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗(yàn)。

 


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