在同級(jí)產(chǎn)品中,Park XE7 能夠帶來高納米級(jí)分辨率的測量效果。得益于的原子力顯微鏡架構(gòu),即獨(dú)立的 XY 軸和 Z 軸柔性掃描器,XE7 能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park 所的True Non-Contact™ 模式還能為您帶來的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
Park XE7 擁有簡潔的圖形用戶界面和自動(dòng)化工具,即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理,XE7 能夠全力推動(dòng)研究生產(chǎn)力的提高,Park XE7 不僅僅是經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的研究級(jí)原子力顯微鏡,也是總體成本低的原子力顯微鏡。
Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact™ 模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針,并且它配有多功能的掃描模式,兼容性,讓您可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)功能,從而延長產(chǎn)品的使用壽命。
的產(chǎn)品特點(diǎn)
1)Smartscan智能掃描模式,“1,2,3"點(diǎn)擊即可實(shí)現(xiàn)成像
2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更*的力學(xué)形貌成像及各種電學(xué)測試
3)強(qiáng)大的內(nèi)置集成軟件系統(tǒng),自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式
技術(shù)特點(diǎn)
1. XY 軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強(qiáng)度壓電疊堆,可在保持平面外運(yùn)動(dòng)少的情況下,實(shí)現(xiàn)高正交運(yùn)動(dòng)以及納米級(jí)樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計(jì)的;
2. Z 軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12 µm增至40µm(選購遠(yuǎn)距離 Z 軸掃描器)
3.燕尾式軌道設(shè)計(jì),輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。借助超輻射發(fā)光二極管(SLD) 的低相干性,顯微鏡可精確成像高度反光表面和精密測量 pico-Newton 力對距光譜;
4.在手動(dòng) XY 軸樣品臺(tái)的精確控制下,樣品的測量定位變得簡單。XY 軸樣品臺(tái)的行程范圍是13 mm x 13 mm;
5.原子力顯微鏡的納米級(jí)信號(hào)是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計(jì)和高速處理單元,Park XE 電子控制器成功實(shí)現(xiàn)了True Non-Contact™ 模式,這是納米級(jí)成像和精確電壓電流測量的選擇。
主要功能模式
標(biāo)準(zhǔn)成像,力學(xué)測試、機(jī)械性能,化學(xué)性能、電性能,光性能(TERS)、熱性能等。
Park XE7不同的選項(xiàng)適合于任何的研究,以下對石墨烯不同性能的測試:

納米材料的光譜學(xué)研究
