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上海納騰儀器有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產品型號EM-AFM
品 牌
廠商性質其他
所 在 地
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更新時間：2023-03-15 16:39:14瀏覽次數：278次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線EM-AFM 電鏡原位原子力顯微鏡
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優(yōu)點，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用，與常規(guī)SEM/FIB兼容，并與EDS, EBSD, WSD兼容。
主要功能
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優(yōu)點，可進行形貌掃描、3D成像、納米壓痕/納米拉伸測試等。
l 技術特點
同時獲得AFM和SEM成像
與主流掃描電鏡兼容
樣品更換簡單
超高分辨率形貌掃描
用納米壓痕法測量納米力
操作穩(wěn)定性高，不受SEM電子束干擾
真空載鎖兼容
技術能力
三、應用
。
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