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上海浦量元精密機電有限公司
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產(chǎn)品型號Verifire™ XPZ
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式:Sindy Lee(量具部); Nicole Zhu(儀器部)查看聯(lián)系方式
更新時間:2022-09-12 13:54:00瀏覽次數(shù):182次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線Verifire™ XPZ激光干涉儀
Verifire™ XPZ
ZYGO Verifire™ XPZ型號激光干涉儀可以為光學元器件的平面、球面面形和透射波陣面提供快速、高精度干涉測量,配合功能強大的MetroPro®軟件可以獲得高重復性和高精度的測量結(jié)果。
Verifire™XPZ運用精QUE相位調(diào)制技術(shù)對樣件的細微面形進行精密測量,具有很高的精que度和重復性。測量時對干涉腔長進行**調(diào)制,同時640 x 480 像素CCD進行數(shù)據(jù)采集獲取多個條紋圖像,由MetroPro®軟件分析計算。
可以測量玻璃或者塑料光學元件,如:平面、透鏡、棱鏡;還有精密合金件、電腦磁盤、軸承和封接面;拋光件、陶瓷、等。在過去的三十多年,我們的干涉儀是世界各地計量設備的優(yōu)選。
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